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X線結晶構造解析

(X線結晶学 から転送)

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/11/30 23:08 UTC 版)

X線結晶構造解析(エックスせんけっしょうこうぞうかいせき、: Kristallstrukturanalyse: X-ray crystallography、略称: XRCX線結晶学とも)は、結晶の原子および分子構造を決定する実験科学であり、結晶構造により入射するX線のビームが多くの特定の方向に回折する。これらの回折したビームの角度と強度を測定することにより、結晶学者は結晶内の電子密度の3次元画像を作成することができる。この電子密度から、結晶内の原子の平均位置、化学結合、結晶学的無秩序、およびその他のさまざまな情報を決定することができる。


  1. ^ Resonant X-ray Scattering | Shen Laboratory”. arpes.stanford.edu. 2019年7月10日閲覧。


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