Abstract
The paper proposes a method to calculate parameters of equivalent sources induced on printed circuit traces. These parameters will be obtained taking into account the combination of several approaches: the induction law when the trace size is small as compared to the wavelength of the disturbances, and transmission lines theory in the opposite case. Nevertheless, the confrontation with a more precise evaluation, obtained using the theory of diffraction by conductors, reveals that it is necessary to make corrections to the transmission lines theory, in particular, when evaluating the resonant frequencies and the amplitude of induced parasites at these frequencies. We will introduce special boundary conditions as well as radiation mechanisms.
Résumé
Ľarticle propose une méthode permettant de calculer les paramètres des sources équivalentes induites sur les pistes de circuits imprimés. Ces paramètres seront obtenus en considérant la combinaison de plusieurs approches comme la loi ďinduction lorsque la dimension des pistes est petite par rapport à la longueur ďonde des perturbations et la théorie des lignes dans le cas contraire. Toutefois la confrontation avec une évaluation plus précise obtenue par la théorie de la diffraction par les conducteurs montre qu ’il faut apporter quelques corrections à la théorie des lignes, en particulier, lorsqu’il s’agira ďévaluer les fréquences de résonances ainsi que ľamplitude des parasites induits sur ces fréquences. Des conditions aux limites particulières ainsi que les mécanismes de rayonnement seront introduites.
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Rifi, M., Bekkali, M.E., Bennouna, M. et al. Application of equivalent circuit concepts to evaluate the amplitude of induced disturbances to the ends of printed circuit traces. Ann. Télécommun. 52, 94–102 (1997). https://doi.org/10.1007/BF03001055
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF03001055
Key words
- Printed circuit
- Electromagnetic disturbance
- Equivalent circuit
- Wave diffraction
- Moment method
- Induced current
- Transmission line
- Resonance frequency
- Radiation resistance