| 标准编号 | 标准名称 | 实施日期 | 状态 |
| GB/T14048.8-2016 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分：辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 | 2016/11/1 | 现行 |
| 标准号StandardNo. | 中文标准名称Standard Title inChinese | 英文标准名称Standard Title inEnglish | 状态 State | 备注 Remark |
| GB/T14048.8-2006 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分：辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 | Low-voltageswitchgear and controlgear - Part 7-2: Ancillary equipment -Protective conductor terminal blocks for copperconductors | 废止 | 2007-04-01实施,代替GB14048.8-1998 |
GB14048的本部分规定了主要用于工业的螺纹型或非螺纹型夹紧件的保护导体接线端子排的要求，具有PE保护功能的接线端子排不大于120mm2 （250 kcmil），具有PEN保护功能的接线端子排大于或等于10 mm2（AWG 8）。注：AWG是“美国线规”的缩写。kcmil=1 000 cmil1 cmil=1圆密耳=直径1密耳的圆面积1mil=1/1 000英寸。保护导体接线端子排用于铜导体和安装支架之间的电气和机械连接。本部分适用于额定电压不超过 1 000V1），频率至1 000 Hz的交流电路以及不超过1 500 V的直流电路中连接截面积为0.2 mm2～120 mm2(AWG 24kcmil～250 kcmil)的预制或非预制圆铜导体的保护导体接线端子排，保护导体接线端子排与GB/T14048.7-2016规定的接线端子排通常在一起使用。
Test Requirement 测试要求：
| 标准 /Standard | 项目/参数 / TestItems | 检测标准（方法）/ TestMethod tecert.com |
| 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 | 接线端子块安装在支架上试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.3.2 |
| 夹紧件的机械强度试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.3.3.1 | |
| 接线端子块中的导线偶然松脱或损坏试验（弯曲试验） | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.3.3.2 | |
| 拉出试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.3.3.3 | |
| 验证额定截面积和额定连接能力 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.3.3.4 | |
| 验证额定截面积 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.3.3.5 | |
| 验证耐湿热性能 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.3.3.6 | |
| 介电试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.4.3 | |
| 验证电压降 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.4.4 | |
| 温升试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.4.5 | |
| 短时耐受电流试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.4.6 | |
| 非螺纹型接线端子排的老化试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.4.7 | |
| 耐非正常热和火试验 | 低压开关设备和控制设备第7-2部分:辅助器件 铜导体的保护导体接线端子排 GB/T 14048.8-2016 8.5 |
Sample Size 样品数量 / 送样规格: on request
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期: 常规服务Regular service 7-9 working days
Report Summary 报告摘要:
