「3次元画像計測」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

移動量演算部３が、加速度計測部１による計測結果と、外側用カメラ部２１による撮影画像とを互いに補正するように用い、装置筐体の３次元的変位量を算出することにより、装置筐体の３次元的変位量をより的確に算出する。例文帳に追加

A movement quantity arithmetic unit 3 uses a measurement result of an acceleration measurement unit 1 and an image photographed by an outside camera unit 21 so that they are mutually corrected, and calculates a quantity of three-dimensional displacement of the device case, so that the quantity of three-dimensional displacement of the device case can be calculated more accurately. - 特許庁

ユーザの顔画像に眼鏡を合成する場合には、人物の顔の３次元形状、反射特性を３次元形状／反射特性計測手段１により測定し、眼鏡選択・フィット手段３により、ユーザによって選択された眼鏡を３次元形状にフィッティングする。例文帳に追加

When glasses are synthesized with a facial image of a user, a three dimensional shape of a person's face and reflection characteristic are measured by a three dimensional shape/reflection characteristic measuring means 1, and the glasses selected by the user is fitted into a three dimensional shape by a glasses selection/fitting means 3. - 特許庁

画像形成装置において、デジタルフィルタ３は、計測補正データに２次元の畳み込み演算を行い、画像データと同じ解像度の補間補正データを生成する。例文帳に追加

In the image forming apparatus; a digital filter 3 conducts a two-dimensional convolution operation to a measurement correcting data, and generates an interpolation correcting data having the same resolution as an image data. - 特許庁

これにより、第１および第２のカメラ２，３が基準画像および参照画像を取得し、演算部５が画素の対応付けを行うことにより、被写体の３次元形状を計測する。例文帳に追加

Thereby the first and second cameras 2 and 3 acquire a standard image and a reference image, and the three-dimensional shape of the photographic subject is measured by causing an arithmetic operation part 5 to associate their pixels. - 特許庁

演算部４は、３次元計測部２から入力部３に入力された距離値を用いて、距離値を画素値とする距離画像を生成する距離画像生成部４１を有している。例文帳に追加

The operation part 4 includes a distance image generation part 41 which uses the distance value input to the input part 3 from the three-dimensional measurement part 2 to generate a distance image using the distance value as a pixel value. - 特許庁

本発明の三次元計測装置は、計測対象物Ａにパターン光を投影する投影手段としてのパターン投影機１と、パターン光が投影された計測対象物Ａを撮像して画像を撮像する撮像手段としてのカメラ２と、このカメラ２により撮像した画像のデータを処理するコンピュータ３とから構成される。例文帳に追加

This three-dimensional measuring instrument of the present invention is constituted of a pattern projector 1 as a projection means for projecting a pattern light onto a measuring object A, a camera 2 as an imaging means for imaging the measuring object A projected with the pattern light to pick up an image, and a computer 3 for processing a data of the image picked up by the camera 2. - 特許庁

顕微鏡を介して細胞培養している培地を撮影するカメラ９と、カメラ９で撮影した２次元画像データを多値化する多値化手段３、５と、多値化手段３、５で多値化した２次元画像データを横切る直線状の計測ラインにおける細胞に対応する画像データ部分のランレングス、または、細胞に対応していない画像データ部分のランレングスを求めるランレングス計測手段３、５とを備えた構成とする。例文帳に追加

This system comprises a camera 9 for photographing a medium under cell culture via a microscope, multivaluating means 3 and 5 for multivaluating two-dimensional image data photographed by the camera 9, and run length measuring means 3 and 5 for determining the run length of an image data portion corresponding or not corresponding to cells in a straight measurement line crossing the two-dimensional image data multivaluated by the means 3 and 5. - 特許庁

パターン光が照射された被写体を撮影することにより第１および第２の撮影手段２，３が取得した基準画像Ｂ１および参照画像Ｒ１における特定領域上の画素の対応付けを行って、特定部分の３次元形状を計測する。例文帳に追加

By photographing the object irradiated with the pattern light, correspondences between images on the specific regions in a basis image B1 and a reference image R1 acquired with the first and second photographing means 2, 3 are established, and the three dimensional shape of the specific part is measured. - 特許庁

センサー１１〜１４により、管路１０内の固気二混相流の静電容量を計測し、ＣＴ画像再構成手段２０は、その静電容量に基づいてその混相流のｎ次元（ｎ＝３または４）の誘電率分布ＣＴ画像信号を演算して生成する。例文帳に追加

Sensors 11-14 measure the electrostatic capacity of a solid-gas two mixed phase flows in a conduit 10, and a CT image reconfiguration means 20 arithmetically generates an n-dimensional (n=3 or 4) dielectric constant distribution CT image signal of the mixed phase flow on the basis of the electrostatic capacity. - 特許庁

マイクロ波信号処理回路７は、計測ランス３のマイクロ波用アンテナ４から装入物表面２までの距離を求め、演算器１６は、各位置における前記距離に基づき、装入物表面２のプロフィールを三次元的に求め、画像表示器１７に画像が表示される。例文帳に追加

The distance from an antenna 4 for microwave in the measuring lance 3 to the charged material surface 2 is obtained with a microwave signal treating circuit 7, and the profile of the charged material surface 2 is three-dimensionally obtained with a computing element 16 based on the above distance in each position to display the picture on a picture display device 17. - 特許庁

マニピュレータ２によりオンハンドカメラ３を移動し、オンハンドカメラ３より得られた画像情報を用いてグローバルカメラ６の三次元位置及び姿勢を計測するように構成し、作業対象物Ｗに対する作業を行うのに先立ち、オンハンドカメラ３によりグローバルカメラ６の位置及び姿勢を計測する。例文帳に追加

An on-hand camera 3 is moved by a manipulator 2, three-dimensional positions and attitudes of a global camera 6 are measured by image information obtained by the on-hand camera 3, and the positions and attitudes of the global camera 6 are measured by the on-hand camera 3 before starting work to the work object W. - 特許庁

一方、パラメータデータ生成部３は、これらの計測結果に基づいて運動パラメータの２次元分布を示すパラメータ画像データや運動パラメータの時間的変化を示すパラメータ時系列データをパラメータデータとして生成し表示部４に表示する。例文帳に追加

Meanwhile, a parameter data creation unit 3 creates parameter data showing two-dimensional distribution of the motor parameter or parameter time-series data showing a variation in time of the motor parameter, as parameter data, on the basis of the measurement results, and displays the parameter data on a display unit 4. - 特許庁

この位置・方向計測システムは、同心円模様１を投影する投影装置（ポインター）２と、同心円模様１を撮像する少なくとも３個の撮像装置（センサー）３〜５と、撮像装置３〜５が撮像した画像から投影装置２の３次元位置およびその光軸方向角度を算出する演算装置６とを備える。例文帳に追加

The position/direction measurement system comprises: the projector (pointer) 2 for projecting the concentric pattern 1; the imaging devices (sensors) 3 to 5 of at least 3 for taking images of the concentric circular pattern 1; and the operational device 6 for calculating 3-D position of the projector device and the optical axis directional angle from the image taken by the imaging devices 3 to 5. - 特許庁

三次元計測装置１は、プリント基板Ｋの表面に対し斜め上方から所定の光成分パターンを照射するための照射手段３と、プリント基板Ｋ上の照射された部分を撮像するための撮像手段４と、撮像手段４により撮像された撮像データに基づき種々の演算を実行するための画像処理手段を有する制御装置７とを具備する。例文帳に追加

This three-dimensional measurement device 1 is provided with: an irradiation means 3 for irradiating a predetermined light component pattern from the oblique upside to a surface of a printed circuit board K; an imaging means 4 for imaging an irradiated part on the circuit board K; and a control device 7 having an image processing means for executing various kinds of calculation based on image data imaged by the imaging means 4. - 特許庁

位置計測システムは、対象物に取り付けられた位置関係の分かっている複数の再帰反射体を有する再帰反射体セット１と、再帰反射体セットを撮像する撮像装置２と、撮像装置２で撮像した再帰反射体セット１の画像に基づいて再帰反射体セットの３次元位置および角度の少なくとも一方を演算する演算装置３とを備える。例文帳に追加

The position measurement system includes: a retroreflection object set 1 having a plurality of retroreflection objects whose positional relation attached to an object is known; an imaging device 2 for imaging the retroreflection object set; and an arithmetic unit 3 for calculating at least either of a three-dimensional position or angle of the retroreflection object set on the basis of an image of the retroreflection object set 1 captured by the imaging device 2. - 特許庁

コンピュータ３により、撮像された画像から検出された投影パターン光の強度値から投影パターン光を形成している個別パターン光の方向角が算出されるとともに強度分布が分割され、分割されたパターンの各計測点における位相値から奥行き距離が算出されるので、精度の高い三次元情報を得ることができる。例文帳に追加

A direction angle of an individual pattern light forming the projected pattern light is calculated by the computer 3, based on an intensity value of the projected pattern light detected from the picked-up image, an intensity distribution is divided, a depth distance is calculated based on a phase value in each measuring point of a divided pattern, and the three-dimensional information is thereby obtained precisely. - 特許庁