「顕微電極」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

光学顕微鏡観察機能を備えた電気化学計測用微小電極システム例文帳に追加

SMALL ELECTRODE SYSTEM FOR ELECTROCHEMICAL MEASUREMENT WITH OPTICAL MICROSCOPIC OBSERVATION FUNCTION - 特許庁

上記電気化学顕微鏡は、顕微鏡ステージ１５上に設置した微小電極１、電極位置決め装置６、微小電流計測装置８、温度制御装置１０、培養気相条件（酸素、二酸化炭素）制御装置を有する。例文帳に追加

The electrochemical microscope is provided with a microelectrode 1 which is installed on a microstage 15, an electrode positioning device 16, a very small current measuring device 8, a temperature controller 10 and a culture gas-phase condition (oxygen, carbon dioxe) controller. - 特許庁

電子顕微鏡に於いて、引出電極や加速電極の電位を固定のままでクロスオーバの位置を自由に調整できる機能を実現する。例文帳に追加

To provide an electron microscope achieving such a function that the position of a crossover can be freely adjusted while potentials of an extraction electrode and an acceleration electrode are fixed. - 特許庁

このように、図１の装置では、ＡＦＭにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。例文帳に追加

In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope. - 特許庁

大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。例文帳に追加

An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode. - 特許庁

まず、微分干渉顕微鏡８による透明な実装基板１を介した電極パッド３の観察像を、電子画像データとして得る。例文帳に追加

First of all, an observation image of the electrode pad 3 through a transparent mounting substrate 1 by a differential interference microscope 8 is acquired as electronic image data. - 特許庁

そうして、微分干渉顕微鏡８の観察像から電極パッド３に対する電子部品２の実装位置を検査する。例文帳に追加

The mounted position of the electronic component 2 to the electrode pad 3 is inspected from an observation image of the differential interference microscope 8. - 特許庁

試料より放出される２次電子の引き上げ効率を高めた電極リング及びこれを備えた電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an electrode ring in which the extraction efficiency of secondary electrons emitted from a test piece is improved, and provide an electron microscope having the same. - 特許庁

探針と試料を介して配置される電極と、探針と電極間に電圧を印加して探針と電極間の試料に流れる電流を検出する測定装置を有するプローブ顕微鏡において、試料内における所望の二点間に電圧を印加することにより、発生するマイグレーションを検知して絶縁不良を判定するプローブ顕微鏡にある。例文帳に追加

In this probe microscope having a probe, an electrode arranged through a sample and a measuring instrument which applies voltage across the probe and the electrode to detect the current flowing to the sample between the probe and the electrode, voltage is applied across two desired points in the sample to detect the produced migration to thereby determine the insulating failure. - 特許庁

電気的部品を内蔵し、外部との電気的接続を可能にする電極を有する対物レンズと、この対物レンズの電極と電気的接続を可能にする外部接続手段と、これらを有する顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an objective lens including a built-in electric component and an electrode allowing electric connection to the outside, to provide an external connecting means allowing electric connection with the electrode of the objective lens, and to provide a microscope having them. - 特許庁

ウエハ１２上に形成されたＩＣの電極パッドにプローブカード１４の電極プローブ１３が接触（針当て）することによって形成された針跡の深さを計測するために、走査型プローブ顕微鏡１９を設ける。例文帳に追加

A scanning probe microscope 19 is provided to the electrode pad of an IC formed on a wafer 12 so as to measure the depth of a needle trace (application of a needle) which is formed by contact with the electrode probe 13 of a probe card 14. - 特許庁

顕微鏡用加温装置１では、一対の電極７，７の一端部は互いに近づく方向へ延びているので、電極７，７に通電すると、その対向領域にある透明導電膜６に速やかに電流が流れる。例文帳に追加

As to this heating device 1 for the microscope; the end parts of a pair of electrodes 7 and 7 extend in a direction where they come closer to each other so that a current rapidly starts flowing in a transparent conductive film 6 existing in the opposed area of the electrodes when the electrodes 7 and 7 are energized. - 特許庁

電気的部品を内蔵し、外部との電気的接続を可能にする電極を有する対物レンズと、この対物レンズの電極と電気的接続を可能にする外部接続手段と、これらを有する顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an objective lens that has an electrical component incorporated therein, has an electrode that enables electrical connection with the external, to provide an external part connecting means that enables electrical connection with the electrode of the objective lens, and to provide a microscope that includes them. - 特許庁

素子基板２の片面に基板側電極４、有機ＥＬ層６、対向電極８を順次積層してなる有機ＥＬ素子１００において、基板側電極の電極面に垂直方向の投影面積に対する原子間力顕微鏡で測定した面積の増加率を１．１％未満にする。例文帳に追加

For an organic EL element 100 obtained by successively laminating a substrate-side electrode 4, an organic EL layer 6 and a counter electrode 8 on one side of an element substrate 2, an increase rate of an area measured through an atomic force microscope to a projected area in a direction perpendicular to an electrode surface of the substrate-side electrode is controlled to lower than 1.1%. - 特許庁

光源からの光を試料に照射することにより前記試料から放出される光電子を対物レンズを介して結像し、拡大像を得る光電子顕微鏡において、前記対物レンズに、２以上の電極を備えさせ、２以上の前記電極を、前記光が２つの電極間を通るように設置する。例文帳に追加

In a photoelectronic microscope which images photoelectrons emitted from a specimen via an objective lens by irradiating the specimen with light from a light source, and obtains a magnified image, the objective lens includes two or more electrodes, and the two or more electrodes are installed in such a manner that the light passes between two electrodes. - 特許庁

気体電界イオン源（電界電離ガスイオン源）の導電性先端（針状電極先端）の品質を評価できるようにしたイオン顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an ion microscope capable of assessing quality of a conductive tip (needle-like electrode tip) used in a gas field ion source (electrical field ionization gas ion source). - 特許庁

一次電子励起のイオンや反射電子励起のイオン、バイアス電極電界により生じた二次電子励起のイオンなどのイオンを効率よく検出し、吸収電流を得ることができる走査電子顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which can effectively detect ions excited by primary electrons, reflecting electrons, secondary electrons generated due to bias electrode electric field or the like to obtain an absorption current. - 特許庁

本発明に係る検査方法では、微分干渉顕微鏡１による、透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を電子画像データとして得る。例文帳に追加

In this inspection method, an observation image of the electrode pad 10a through a transparent mounting substrate 10 by the differential interference microscope 1 is acquired as electronic image data. - 特許庁

電子顕微鏡による格子断面間隔が２〜５０ｎｍの範囲であるナノ構造を有するカーボンを用いて、電気二重層キャパシタ用電極を構成する。例文帳に追加

The electrode for an electric double layer capacitor is composed of carbon having a nano structure where the lattice section spacing determined by means of an electron microscope is in the range of 2-50 nm. - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いて、ナノメータスケールの微細電極を作製することができる微細金属原子構造物の作製方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method and device for a metal atom micro-structure capable of fabricating a micro-electrode of nanometer scale using an interatomic force microscope. - 特許庁

１枚目の液晶パネルは，パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし，かつ，顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。例文帳に追加

A first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on a probe stage, and an alignment state of a probe and an electrode of the panel is confirmed by using a microscope. - 特許庁

電子ビーム及び試料から放出される２次電子の通過経路となる中空孔の軸中心まわりの電界分布のばらつきを抑えることのできる電極リング及び電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an electrode ring and an electron microscope capable of suppressing a variation in electric field distribution around the axial center of a hollow hole serving as a passage path of an electron beam and secondary electrons emitted from a sample. - 特許庁

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。例文帳に追加

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data. - 特許庁

電極パッドのプローブ領域とボンディング領域とを、光学顕微鏡による拡大観察で明確に識別することができる半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device which can identify a probe region and a bonding region of an electrode pad clearly by magnification observation by an optical microscope. - 特許庁

１枚目の液晶パネルは，パネル上の三つのアライメントマークとプローブステージ上の三つのカメラを用いてアライメントし，かつ，顕微鏡を用いてプローブとパネルの電極との位置合わせ状態を確認する。例文帳に追加

The first liquid crystal panel is aligned by using three alignment marks on the panel and three cameras on the probe stage, and the alignment of the probe and the electrodes on the panel is checked by using a microscope. - 特許庁

走査型アトムプローブ（ＳＡＰ）の分析領域を選定する際、該ＳＡＰの引出電極の先端を走査型トンネル顕微鏡(ＳＴＭ)の探針として用い、試料の表面形状を描き出させて分析領域を選定する。例文帳に追加

When the analyzing area for the scanning atom probe(SAP) is selected, the tip of the extraction electrode for the SAP is used as a probe for a scanning tunneling microscope(STM), and the shape of the sample is plotted thereby, to select the analyzing area. - 特許庁

一対の電極間に強誘電体を挟持させてなり、該強誘電体が、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さ（ＲＭＳ）が１０ｎｍ以上である第１強誘電体層と、該第１強誘電体層上に形成され、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さ（ＲＭＳ）が５ｎｍ以下である第２強誘電体層とを有する強誘電体キャパシタである。例文帳に追加

The ferroelectric capacitor includes a first ferroelectric layer in which a ferroelectric is sandwiched between a pair of electrodes and the ferroelectric has a surface roughness (RMS), measured by an atomic force microscope, of not lower than 10 nm; and a second ferroelectric layer which is formed on the first ferroelectric layer and has a surface roughness (RMS), measured by the atomic force microscope, of not higher than 5 nm. - 特許庁

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。例文帳に追加

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar. - 特許庁

イオンビームの照射によって電極表面をその厚さ方向に堀削して、堀削面における活物質層の走査イオン顕微鏡（ＳＩＭ）像を観察し、観察されたＳＩＭ像における活物質のコントラストに基づき電極の性能を評価する。例文帳に追加

Surface of electrode is scraped by irradiating ion beam, image of drilled face of the activator is observed by a scanning ion microscope (SIM), and a property of the electrode is evaluated on the basis of contrast of the activator in observed SIM image. - 特許庁

平行平板型のドライエッチング装置において、半導体基板を載置する電極とは反対の電極の内部に顕微鏡機能および膜厚測定機能を有するカメラを設置し、このカメラを用いて半導体基板のエッチング状態を観測できるようにした。例文帳に追加

In a parallel flat plate type dry etching device, a camera having a microscope function and a film thickness measurement function is installed inside an electrode opposite to an electrode for mounting the semiconductor substrate, and the etching state of the semiconductor substrate is observed by using this camera. - 特許庁

走査型電子顕微鏡等に適した検出器は、p^＋‐拡散層に接続された純ホウ素の薄い層をもつPINフォトダイオードで、そのホウ素層は、アルミニウム・グリッドをもつ電極に接続され、そのホウ素層と電極との間の各々の位置において低い電気抵抗の経路を形成する。例文帳に追加

In this detector suitable for a scanning electron microscope or the like, which is a PIN photodiode having a thin layer of pure boron connected to the p^+-diffusion layer, the boron layer is connected to an electrode having an aluminum grid to form a path of low electrical resistance on each position between the boron layer and the electrode. - 特許庁

本発明のマスク黒欠陥修正手法は、原子間力顕微鏡によってマスクの黒欠陥部位置を把握し、前記黒欠陥位置上方に前記原子間力顕微鏡の探針を移動させ、前記探針と前記マスク黒欠陥部を両電極とし電解液を介在させた状態で電気化学的反応により前記黒欠陥を除去するものであって、更に前記原子間力顕微鏡によって前記黒欠陥の除去を確認するものである。例文帳に追加

The black defect correction technique of the mask comprises recognizing the position of a black defect section of the mask by an atomic force microscope (AFM), moving the probe of the AFM upward of the black defect position, and removing the black defect by electrochemical reaction in the state of interposing an electrolyte between the probe and the black defect section as both electrodes and further comprises confirming the removal of the black defect by the AFM. - 特許庁

上記目的を解決するために、本発明の一実施態様は、コンデンサレンズが永久磁石により構成されている走査電子顕微鏡において、電子源とアノード電極との間の距離を可変可能とする機構を設けたことを特徴とする。例文帳に追加

In the scanning electron microscope wherein the condenser lens is formed by the permanent magnet as an embodiment of the invention, a mechanism capable of varying a distance between an electron source and an anode electrode is arranged. - 特許庁

エミッション顕微鏡には、真空容器１５の内部に収容された試料８に紫外線光を照射する紫外線照射装置１２と、試料８にパルス電圧を印加するための電極（不図示）、電流導入端子９およびパルス発生器１０とが備えられている。例文帳に追加

This emission microscope is provided with an ultraviolet ray irradiating device 12 for irradiating with an ultraviolet ray a sample 8 stored inside a vacuum container 15, an electrode current introducing terminal 9 for impressing pulse voltage to the sample 8, and a pulse generator 10. - 特許庁

この発明は、検査人の個人差または電極パッドの材質に依存すること無く自動的に検査することができ、また、微分干渉顕微鏡で観察された背景の明るさの変化に応じた画像処理が可能な電子部品実装状態検査方法等を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspection of a mounting state of an electronic component or the like capable of inspecting automatically without depending on the individual difference of an inspecting person and the material of an electrode pad, and performing image processing corresponding to a change of the background brightness observed by a differential interference microscope. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

While observing with a scanning electron microscope, a plurality of probes 1, 2, 3 and 4 each having a sharp tip are made to approach sample electrodes 5, 6, 7 and 8, respectively, and made to come into contact with them completely until a contact current saturates by the use of probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17 under the control of a probe movement control circuit 18. - 特許庁

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。例文帳に追加

A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17. - 特許庁

走査トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）で使用するイリジウム製探針の製作方法において、アセトンを添加した塩化カルシウム溶液を電解液とし、かつ電解研削時の対向電極として黒鉛製平行平板型電極を用いて電解研磨法により、取り扱いが容易な尖鋭なイリジウム製探針を作製する。例文帳に追加

In this method of manufacturing the probe made of iridium, used in the scanning tunneling microscope(STM), a calcium chloride solution incorporated with acetone is used as an electrolyte, and a parallel plate type electrodes made of graphite are used as opposed electrodes in electrolytic grinding to manufacture the acute probe made of iridium, easy to handle, by an electrolytic polishing method. - 特許庁

半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。例文帳に追加

The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10. - 特許庁

探針プローブを電極パッドに接触させて特性検査を行う際、安定な抵抗が得られ、探針プローブを接触させたことが顕微鏡観察等により容易に視認することができるようにし、さらに、ハンダに対する濡れ性が良好で、電極パッド上にハンダバンプを好適に形成することができる、半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device, where stable contact resistance can be obtained when a probe is brought into contact with an electrode pad to check its properties, and the probe is kept in contact with the electrode pad can be visually confirmed with ease by a microscope, the electrode is superior in solder wettability, and a solder bump can be suitably formed on the electrode pad. - 特許庁

電気力顕微鏡用標準試料１は、電位及び形状について既知の値を備える構成として、誘電体からなる基板２と、基板２上に形成される導電性の電極パターン４とを備え、電極パターン４は電位分布を既知とする電位パターン及び形状を既知とする空間パターンとを備える。例文帳に追加

A standard sample 1 for an electric force microscope has known values of potential and shape and includes a substrate 2 made from a dielectric and a conductive electrode pattern 4 formed on the substrate 2, the electrode pattern 4 having a potential pattern whose potential distribution is known and a space pattern whose shape is known. - 特許庁

走査型電子顕微鏡観察により平均粒径０．０１μｍ以上、０．１μｍ以下の範囲のセラミックスで形成されている圧電セラミックス層に対電極を配置し、分極処理した圧電セラミックス素子に、分極方向と異なる外力を与え電荷を発生することを特徴とする圧電発電素子。例文帳に追加

In the piezoelectric power generating element, a pair of electrodes is arranged on a piezoelectric ceramics layer formed of a ceramics in a range of average grain size of 0.01-0.1 μm by observation using a scanning electron microscope, and the piezoelectric ceramics layer subjected to polarization processing is applied with an external force different from the polarization direction, thereby generating electric potentials. - 特許庁

ＧＭＲ素子両側にＥＢ描画とエッチングにて微細なトラック幅寸法で電気的分割されたリード電極４を形成する際に、ＧＭＲ以外の部分に下地ＡｌＴｉＣ基板１の終点検出ランド６を設け、光学顕微鏡にて下地ＡｌＴｉＣ基板１の露出を確認することでエッチングの終点を検出する。例文帳に追加

In the formation of lead electrodes 4 electrically divided by a very small track width by EB drawing and etching in both sides of the GMR element, the end point detection land 6 of a substrate AlTiC substrate 1 is installed in a part other than the GMR, and the end point of etching is detected by using an optical microscope to check the exposure of the substrate AlTiC substrate 1. - 特許庁