意味 | 例文 (999件) |
荷電粒子の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3485件
荷電粒子分光器例文帳に追加
CHARGED PARTICLE SPECTROSCOPE - 特許庁
荷電粒子蓄積装置例文帳に追加
荷電粒子測定装置例文帳に追加
荷電粒子加速装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE ACCELERATOR - 特許庁
荷電粒子露光装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE ALIGNER - 特許庁
荷電粒子露光装置例文帳に追加
荷電粒子照射装置例文帳に追加
荷電粒子ビームカラム例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM COLUMN - 特許庁
荷電粒子線装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE RAY DEVICE - 特許庁
荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM - 特許庁
荷電粒子線光学系例文帳に追加
荷電粒子輸送機構例文帳に追加
荷電粒子供給装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE SUPPLY DEVICE - 特許庁
荷電粒子発生源例文帳に追加
CHARGED PARTICLE GENERATION SOURCE - 特許庁
荷電粒子線装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM EQUIPMENT - 特許庁
荷電粒子用加速装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE ACCELERATOR - 特許庁
荷電粒子ビーム処理例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM PROCESSING - 特許庁
荷電粒子照射装置例文帳に追加
荷電粒子ビーム装置。例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM - 特許庁
荷電粒子源構造体例文帳に追加
CHARGED PARTICLE SOURCE STRUCTURAL BODY - 特許庁
荷電粒子光学装置例文帳に追加
荷電粒子検出装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE DETECTING DEVICE - 特許庁
荷電粒子発生装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE GENERATING DEVICE - 特許庁
荷電粒子ビ−ム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子線装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁
荷電粒子線露光装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM ALIGNER - 特許庁
荷電粒子線装置例文帳に追加
PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子線装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM - 特許庁
荷電粒子ビーム装置。例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁
荷電粒子線装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLES BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLES BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子ビーム装置。例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁
荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM EQUIPMENT - 特許庁
荷電粒子応用装置例文帳に追加
荷電粒子計測装置例文帳に追加
荷電粒子線装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE RAY APPARATUS - 特許庁
荷電粒子線レンズ例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM LENS - 特許庁
荷電粒子線加速装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM ACCELERATOR - 特許庁
荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE-BEAM APPARATUS - 特許庁
荷電粒子システム例文帳に追加
CHARGED PARTICLE SYSTEM - 特許庁
荷電粒子照射装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE IRRADIATOR - 特許庁
荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁
荷電粒子制御電極および荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
CHARGED PARTICLE CONTROL ELECTRODE AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS - 特許庁
荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム顕微鏡例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE - 特許庁
荷電粒子線顕微鏡および荷電粒子線顕微方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE AND CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPIC METHOD - 特許庁
意味 | 例文 (999件) |
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