「自動試料調製」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

微量試料を測定する場合においても、測定試料の調製が自動化され、測定精度を向上させることができる粒子分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a particle analyzer capable of automating adjustment of a measuring sample, and improving measurement accuracy, even when measuring a trace amount of sample. - 特許庁

組織学的検査等における試料の調製から評価に至る処理プロセス、とりわけ各装置ないしユニット間における試料支持体の滞留のない移動を、単純かつ可及的に自動的に実行することを可能にする封入された試料支持体の受入・引渡ステーション。例文帳に追加

To provide a station for receiving/transporting an enclosed specimen holder, which simply, quickly and automatically carries out a treatment process ranging from preparing to evaluating a specimen in a histologic examination or the like, especially carry out smooth movement of the specimen holder among apparatuses or among units. - 特許庁

設置面積が小さくて済み、工程間で人手を要することなく、採取した土壌から分析用の土壌試料を短時間で自動的に調製することの可能な装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an automatic preparing apparatus reduced in the installation space and capable of automatically preparing a soil sample for analysis from a sampled soil in a short time, without requiring labor between processes. - 特許庁

検査対象項目に応じて変化する様々な生体試料にも対応し、それらの異なる前処理時間に対しても、反応液調製後から検出部への反応容器の設置までの時間を一定に維持して、連続測定を可能とする自動分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an autoanalyzer enabling continuous measurement by keeping the time from the preparation of a reaction liquid to the installation of a reaction container to a detection part constant even with respect to the different pretreatment times of various bio-samples corresponding to various bio-samples changing according to inspection target items. - 特許庁

高いイオン生成量を有するＭＡＬＤＩ質量分析法用の測定試料を調製し、短時間で効率良く質の高いＭＳスペクトルが得られるようにし、また、構造同定に必要な高感度ＭＳ^ｎ（２≦ｎ）解析を可能とし、自動分析への応用を可能にする高スループットのＭＡＬＤＩ質量分析法の実現が可能になるＭＡＬＤＩ質量分析法用測定試料調製方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a measurement sample preparation method for a MALDI mass analysis method for preparing a measurement sample for the MALDI mass analysis method having a high ion generation amount to efficiently obtain a high quality MS spectrum in short time, and the MALDI mass analysis method with high throughput is attained, for allowing high sensitivity MS^n (2≤n) analysis required for structure identification and allowing application to automatic analysis. - 特許庁