「測定精度」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

回転精度測定方法及び回転精度測定装置例文帳に追加

ROTATIONAL ACCURACY MEASUREMENT METHOD AND ROTATIONAL ACCURACY MEASURING DEVICE - 特許庁

車体部品の精度測定方法および精度測定装置例文帳に追加

ACCURACY MEASUREMENT METHOD AND ACCURACY MEASUREMENT DEVICE OF VEHICLE BODY COMPONENT - 特許庁

マウント精度測定装置およびマウント精度測定方法例文帳に追加

MOUNT ACCURACY MEASURING EQUIPMENT AND MOUNT ACCURACY MEASURING METHOD - 特許庁

回転精度測定方法及び回転精度測定装置例文帳に追加

ROTATIONAL ACCURACY MEASURING METHOD AND ROTATIONAL ACCURACY MEASURING INSTRUMENT - 特許庁

プローバ精度の測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING PROBER PRECISION - 特許庁

重ね合わせ精度測定方法例文帳に追加

SUPERPOSITION PRECISION MEASURING METHOD - 特許庁

電子銃の組立精度測定装置例文帳に追加

ASSEMBLING ACCURACY MEASURING DEVICE FOR ELECTRON GUN - 特許庁

精度の高い測定結果を得る。例文帳に追加

To obtain a measurement result of high precision. - 特許庁

磁場の測定精度を向上させる。例文帳に追加

To improve accuracy of magnetic field measurement. - 特許庁

高精度加速度測定装置例文帳に追加

HIGH ACCURACY ACCELERATION MEASURING DEVICE - 特許庁

工作機械の精度測定装置例文帳に追加

PRECISION MEASUREMENT DEVICE FOR MACHINE TOOL - 特許庁

エッチング精度の測定方法例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR ETCHING ACCURACY - 特許庁

重ね合わせ精度測定マーク例文帳に追加

REGISTRATION ACCURACY MEASURING MARK - 特許庁

タイヤ成形機の精度測定方法例文帳に追加

ACCURACY MEASURING METHOD OF TIRE MOLDING MACHINE - 特許庁

パターン重ね合せ精度測定方法例文帳に追加

PATTERN OVERLAPPING ACCURACY MEASURING METHOD - 特許庁

重ね合わせ精度測定方法。例文帳に追加

OVERLAPPING ACCURACY MEASUREMENT METHOD - 特許庁

粒子の高精度測定システム例文帳に追加

HIGH-PRECISION MEASUREMENT SYSTEM OF PARTICLES - 特許庁

高精度トルク測定装置例文帳に追加

HIGHLY-ACCURATE TORQUE MEASURING DEVICE - 特許庁

位置決め装置の精度測定方法例文帳に追加

ACCURACY MEASURING METHOD OF POSITIONING APPARATUS - 特許庁

重ね合わせ測定精度向上方法例文帳に追加

OVERLAPPING MEASUREMENT PRECISION IMPROVING METHOD - 特許庁

高精度微少角度測定装置例文帳に追加

HIGH-ACCURACY FINE ANGLE MEASURING DEVICE - 特許庁

変調精度測定回路例文帳に追加

MEASUREMENT CIRCUIT FOR ACCURACY OF MODULATION - 特許庁

水分の測定精度を高める。例文帳に追加

To heighten accuracy in measuring moisture. - 特許庁

工作機械の精度測定装置例文帳に追加

ACCURACY MEASURING DEVICE FOR MACHINE TOOL - 特許庁

高精度な電流測定を行う。例文帳に追加

To perform high-precision current measurement. - 特許庁

高精度寸法測定装置例文帳に追加

HIGH PRECISION DIMENSION MEASURING APPARATUS - 特許庁

重ね合わせ精度測定マークおよび重ね合わせ精度測定方法例文帳に追加

SUPERPOSITION ACCURACY MEASUREMENT MARK AND SUPERPOSITION ACCURACY MEASURING METHOD - 特許庁

ガイドレールの据付精度測定装置及び据付精度測定方法例文帳に追加

INSTALLATION ACCURACY MEASURING DEVICE FOR GUIDE RAIL AND INSTALLATION ACCURACY MEASURING METHOD - 特許庁

重ね合わせ精度測定パターン及び重ね合わせ精度測定方法例文帳に追加

PATTERN AND METHOD FOR MEASURING SUPERPOSITION PRECISION - 特許庁

角度割り出し精度測定装置、及び角度割り出し精度測定方法例文帳に追加

ANGLE INDEXING ACCURACY MEASURING DEVICE AND METHOD - 特許庁

重ね合わせ精度測定方法および重ね合わせ精度測定用パターン例文帳に追加

METHOD FOR MEASUREMENT OF OVERLAY ACCURACY AND PATTERN FOR MEASUREMENT OF OVERLAY ACCURACY - 特許庁

重ね合わせ精度測定における精度の向上を図る。例文帳に追加

To improve the accuracy in the measurement of superposition accuracy. - 特許庁

低精度の部品により構成した高精度測定回路例文帳に追加

HIGH-ACCURACY MEASURING CIRCUIT FORMED OUT OF LOW- ACCURACY PARTS - 特許庁

高い精度でショットの繋ぎ合わせ精度を測定する。例文帳に追加

To measure the accuracy of stitching of shots in a high accuracy. - 特許庁

運動精度及び軌跡精度の測定方法例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR GEOMETRIC ACCURACY OF MOTION AND ACCURACY OF LOCUS - 特許庁

重ね合わせ精度測定装置および測定方法例文帳に追加

SUPERPOSITION PRECISION MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD - 特許庁

プロファイル測定の測定精度を高める。例文帳に追加

To enhance measurement accuracy for a profile measurement. - 特許庁

測定精度を向上し得る濃度測定装置を提案する。例文帳に追加

To provide a concentration measurement apparatus for improving measurement accuracy. - 特許庁

該縞感度で測定することで高精度に測定できる。例文帳に追加

Thus, highly precise measurement can be performed by using the fringe sensitivity. - 特許庁

組み付け精度測定方法および測定装置例文帳に追加

ASSEMBLY ACCURACY MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE - 特許庁

被測定信号の波形を高精度に測定する。例文帳に追加

To measure the waveform of a signal to be measured with a high precision. - 特許庁

測定機の真直精度補正方法および測定機例文帳に追加

CORRECTION METHOD FOR STRAIGHTNESS PRECISION OF MEASURING MACHINE, AND THE MEASURING MACHINE - 特許庁

測定精度の向上方法および測定容器例文帳に追加

IMPROVEMENT METHOD OF MEASUREMENT ACCURACY, AND MEASURING CONTAINER - 特許庁

測定器の測定精度チエツク方法及びチェック装置。例文帳に追加

METHOD FOR CHECKING MEASUREMENT ACCURACY AND APPARATUS FOR CHECKING MEASURING INSTRUMENT - 特許庁

被測定光の波形測定を精度よく実行すること。例文帳に追加

To execute precisely measuring of a light waveform to be measured. - 特許庁