「検査条件」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

～のために条件コードを検査する例文帳に追加

the condition code is inspected for ～  - コンピューター用語辞典

定期検査の合格条件例文帳に追加

Criteria for Passing a Periodic Inspection  - 日本法令外国語訳データベースシステム

基準器検査の合格条件例文帳に追加

Criteria for Passing the Inspection of Verification Standards  - 日本法令外国語訳データベースシステム

製造条件検査システム例文帳に追加

PRODUCTION CONDITION INSPECTION SYSTEM - 特許庁

検査条件設定装置、検査条件設定方法、検査条件設定用プログラム、および検査条件設定用プログラムを格納した記録媒体例文帳に追加

INSPECTION CONDITION SETTING DEVICE, INSPECTION CONDITION SETTING METHOD, PROGRAM FOR INSPECTION CONDITION SETTING, AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM FOR INSPECTION CONDITION SETTING STORED - 特許庁

ウェハ検査条件決定方法及びウェハ検査条件決定システム例文帳に追加

WAFER INSPECTION CONDITION DETERMINING METHOD AND WAFER INSPECTION CONDITION DETERMINING SYSTEM - 特許庁

放射線検査の検査条件算出装置及び条件設定方法例文帳に追加

INSPECTION CONDITION CALCULATING DEVICE FOR RADIOGRAPHIC INSPECTION AND CONDITION SETTING METHOD - 特許庁

半導体検査プログラムの検査条件抽出プログラム例文帳に追加

INSPECTION CONDITION EXTRACTION PROGRAM OF SEMICONDUCTOR INSPECTION PROGRAM - 特許庁

基板検査装置および検査条件設定方法例文帳に追加

SUBSTRATE TESTER AND TEST CONDITION SETTING METHOD - 特許庁

画像検査条件決定装置および画像検査装置例文帳に追加

IMAGE INSPECTION CONDITION DECIDING APPARATUS AND IMAGE INSPECTING APPARATUS - 特許庁

検査条件評価プログラム及び検査装置例文帳に追加

INSPECTION CONDITION EVALUATION PROGRAM AND INSPECTION APPARATUS - 特許庁

塗布検査装置及び塗布検査条件の設定方法例文帳に追加

APPLICATION INSPECTION APPARATUS AND SETTING METHOD FOR APPLICATION INSPECTION CONDITIONS - 特許庁

印刷物検査装置１は、初版検査条件３１に基づいて検査条件を設定する。例文帳に追加

The device 1 sets conditions of inspection on the basis of the conditions 31. - 特許庁

検査条件決定方法、検査条件決定装置、外観検査機およびプログラム例文帳に追加

INSPECTION CONDITION DETERMINATION METHOD, INSPECTION CONDITION DETERMINING DEVICE, VISUAL INSPECTION MACHINE, AND PROGRAM - 特許庁

最上層を検査する装置条件（検査条件）を容易に設定可能な表面検査装置を提供する。例文帳に追加

To set easily a device condition (inspection condition) for inspecting the uppermost layer. - 特許庁

検査条件データ作成支援プログラム及び検査装置及び検査条件データ作成方法例文帳に追加

SUPPORT PROGRAM FOR PREPARATION OF INSPECTION CONDITION DATA, INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF PREPARING INSPECTION CONDITION DATA - 特許庁

複数個の被検査半導体装置を同一の検査条件で検査する。例文帳に追加

To inspect a plurality of semiconductor devices to be inspected in an identical inspection condition. - 特許庁

設計データ上で検査位置２０２と検査項目２０３と、検査対象である半導体装置の撮影条件２０６と検査位置と、を関連付けた検査条件ファイルを格納する検査条件データベース２０７を備え、この検査条件データベース２０７を参照して検査条件２１０を求める。例文帳に追加

An inspection condition database 207 is provided which contains inspection positions 202 and inspection items 203 of design data and an inspection condition file wherein photographing conditions 206 of a semiconductor device and inspection positions are related, and inspection conditions 210 are found referencing the inspection condition database 207. - 特許庁

検査条件設定方法及び検査条件設定装置並びにコンピュータプログラム例文帳に追加

INSPECTION CONDITION SETTING METHOD AND DEVICE, AND COMPUTER PROGRAM - 特許庁

検査条件の調整用パターン、およびそれを用いた検査条件の調整方法例文帳に追加

ADJUSTING PATTERN OF INSPECTION CONDITION, AND ADJUSTMENT METHOD OF INSPECTION CONDITION USING THE SAME - 特許庁

電子線式半導体ウエハ検査装置の検査条件を適正化する。例文帳に追加

To make proper inspection conditions of an electron-beam semiconductor wafer inspection apparatus. - 特許庁

電子線式パターン検査装置、及び、試料の検査条件の設定方法例文帳に追加

ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR SETTING INSPECTION CONDITION OF TEST PIECE - 特許庁

観察／検査作業支援システム及び観察／検査条件設定方法例文帳に追加

SUPPORT SYSTEM FOR OBSERVATION/INSPECTION WORK, AND METHOD OF SETTING OBSERVATION/INSPECTION CONDITION - 特許庁

検査条件データ管理方法及びシステム並びにプログラム、検査装置例文帳に追加

METHOD, SYSTEM AND PROGRAM FOR MANAGING INSPECTION CONDITION DATA AND INSPECTION DEVICE - 特許庁

また、画像検査の検査条件は、ユーザが任意に設定することもできる。例文帳に追加

Conditions for image inspection can also be set by a user if required. - 特許庁

検査は、この編集された検査条件情報に基づいて行われる。例文帳に追加

The inspection is performed, based on this edited inspection condition information. - 特許庁

放射線検査装置、放射線検査方法、撮像条件算出装置例文帳に追加

RADIATION INSPECTION DEVICE, RADIATION INSPECTION METHOD, AND IMAGING CONDITION CALCULATION DEVICE - 特許庁

検査条件設定を比較的短時間にかつ容易に行うことができ、また、サンプルがない場合にも検査条件設定の検討を可能にし、さらに、検査条件と欠陥信号強度を検査条件設定者に提供して検査条件設定を支援することができる検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection system capable of setting easily an inspection condition in a relatively short time, capable of setting easily the inspection condition even when no sample exists, and capable of providing the inspection condition and a defect signal intensity to an inspection condition setting person to support the setting for the inspection condition. - 特許庁

計量証明検査の合格条件例文帳に追加

Criteria for Passing the Measurement Certification Inspection  - 日本法令外国語訳データベースシステム

被験者の検査条件が選択される（Ｓ１０１）。例文帳に追加

The inspection condition of a testee is selected (S101). - 特許庁

溶接条件選定装置及び溶接検査装置例文帳に追加

APPARATUS FOR SELECTING WELDING PARAMETER AND APPARATUS FOR INSPECTING WELD - 特許庁

検査条件管理システムおよび部品実装システム例文帳に追加

INSPECTION CONDITION MANAGEMENT SYSTEM AND COMPONENT MOUNTING SYSTEM - 特許庁

半導体ウエーハ外観検査装置の検査条件データ生成方法及び検査システム例文帳に追加

TEST-CONDITION DATA GENERATING METHOD AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR-WAFER VISUAL TESTING APPARATUS - 特許庁

これら各検査領域Ａ１、Ａ２とにおいてそれぞれ異なる検査条件で欠陥検査を行う。例文帳に追加

Flaw inspection is performed under inspection conditions, respectively different in the respective inspection conditions A1 and A2. - 特許庁

欠陥検査装置１は当該検査条件に基づいて欠陥検査を行う。例文帳に追加

The flaw is inspected on the basis of an inspection condition by the flaw inspection device 1. - 特許庁

画像検査装置は、この設定された検査条件に基づいて出力画像の画像検査を実行する。例文帳に追加

Based upon the set conditions for the inspection, the image inspecting device inspects output images. - 特許庁

検査条件がそれぞれ異なるグライド検査とサーティファイ検査を同時に行なえるようにする。例文帳に追加

To simultaneously perform glide inspection and certification inspection differing in inspection condition. - 特許庁

周期性パターンのムラ検査装置における検査条件設定方法および検査装置例文帳に追加

INSPECTION CONDITION SETTING METHOD IN APPARATUS FOR INSPECTING IRREGULARITY OF PERIODIC PATTERN AND INSPECTION APPARATUS - 特許庁

非破壊検査装置に対し、測定条件等の検査条件の入力を非接触で行うことができ、かつ、非破壊検査装置の検査条件の読み込み部における防水構造を不要にできる非破壊検査システムを提供すること。例文帳に追加

To provide a nondestructive inspecting system for inputting inspection conditions, such as measurement conditions, to a nondestructive inspecting apparatus without contact, and can dispense with a waterproof structure at a section for reading the inspection conditions of the nondestructive inspection apparatus. - 特許庁

自動撮影条件調整を行う撮影装置の検査において、所望の撮影条件で適切に検査を行うことができる検査装置を実現する。例文帳に追加

To provide an inspection device properly making inspection under desired photographing conditions in an inspection of a photographing device that automatically adjusts photographing conditions. - 特許庁

複数ある検査条件の中から高感度に検査可能な条件を早く簡単に求める欠陥検査方法とその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection method and its apparatus for speedily and easily determining conditions capable of highly sensitive inspection from among a plurality of inspection conditions. - 特許庁

点灯検査において、欠陥が検出可能な検査条件を選出できるカラー表示デバイスの検査条件選出装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection condition selection apparatus for a color display device capable of selecting an inspection condition capable of detecting a defect in lighting inspection. - 特許庁

カラー表示デバイスの検査条件選出装置、表示デバイス検査装置およびカラー表示デバイスの検査条件選出方法例文帳に追加

INSPECTION CONDITION SELECTING APPARATUS FOR COLOR DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE INSPECTION APPARATUS, AND INSPECTION CONDITION SELECTION METHOD FOR THE COLOR DISPLAY DEVICE - 特許庁

塗布検査条件を容易に設定することができる塗布検査装置及び塗布検査条件の設定方法の提供。例文帳に追加

To provide an application inspection apparatus capable of easily setting application inspection conditions, and to provide a setting method for the application inspection conditions. - 特許庁

画像検査装置は、用紙の種類に応じて画像検査の検査条件を予め設定されている所定の条件に自動的に設定する。例文帳に追加

According to a paper type, the image inspecting device automatically sets predetermined conditions for image inspection. - 特許庁