「検査ロット」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

受信側では、スロット毎に誤りの有無を検査する。例文帳に追加

On the reception side, the presence/absence of errors is checked by slot. - 特許庁

※サンプリング、ロット等の検査比率に基づき実施例文帳に追加

* Implementation based on the inspection ratios of sampling and lot - 経済産業省

生産制御システム２は、検査装置３に検査対象のロットが到着すると検査装置３に検査を指示し、検査装置３による検査が行われる。例文帳に追加

The production control system 2 instructs inspection to the inspection device 3 when the inspection object lot arrives at the inspection device 3, and the inspection device 3 performs inspection. - 特許庁

また、前年産麦類で全ロット検査を実施した県のうち、上記以外の県において、地域ごとに最初のロットを検査することとし、その結果が一定の水準（50 Bq/kg）を超過した場合には、全ロット検査を実施する。例文帳に追加

In other prefectures where inspections were conducted on all lots for wheat variety grown in the previous year, the first lots inspections are conducted per local area.* If the results of the first lots inspections exceed certain levels (50 Bq/kg), inspections are conducted on all lots in these prefectures also. - 厚生労働省

ＭＥＳクライアント１２ａ，…，１２ｍは、検査装置１３ａ，…，１３ｎの稼動状況を一覧表示する装置稼動状態一覧画面と、検査対象ロットの検査結果を表示する検査結果／ロット次処理指定画面と、検査対象ロットに対しての次処理の指示を入力する検査対象ロット次処理指定部とを含む。例文帳に追加

Each of the MES clients 12a,..., 12m includes: a device operating state list display for displaying a list of working states of the examination devices 13a,..., 13n; an examination result/lot next processing designation display for displaying an examined result of an examination target lot; and an examination target lot next processing designating section for inputting an instruction of next processing for the examination target lot. - 特許庁

検査装置の底部に位置し、ＩＣ回路のような被検査部材を固定するためにスロットは検査ボード上に設置し、且つ被検査部材は前記検査ボードと電気接続する。例文帳に追加

A slot is installed on an inspection board located at the bottom part of an inspection device, to fix an inspected member such as the integrated circuit, and the inspected member is electrically connected to the inspection board. - 特許庁

スロットタイプシャドウマスクの孔径ＤとブリッジＢの寸法検査を効率良く、精度良く検査するためのスロットタイプシャドウマスクの検査方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an inspecting method of a slot type shadow mask so that dimension test on a hole diameter D and a bridge B of the slot type shadow mask can be carried out efficiently and with high degree of precision. - 特許庁

並列実装検査基板３０は、一つの拡張スロット３５と、一つの基準スロット３４及びこれらと並列に連結された複数の並列検査スロット３６、３８を含む。例文帳に追加

This parallel mounting inspection board 30 comprises one extension slot 35, one reference slot 34 and two or more parallel inspection slots 36 and 38 connected in parallel thereto. - 特許庁

フレキシブル検査システム５は、異常が検出されたロットの検査指示を生産制御システム２に出力する。例文帳に追加

The flexible inspection system 5 outputs the inspection instruction of the lot whose abnormality has been detected to the production control system 2. - 特許庁

又、検査手段２やデータ管理サーバ５は通信回線６に接続され、ロット検査結果はリアルタイムで収集される。例文帳に追加

The inspection means 2 and the data server 5 are connected to communication lines 6, and the lot inspection results are collected in real time. - 特許庁

粉体のロットごとに粉体材料の品質を検査し、分布パラメータを含めて粉体についての品質の検査結果を出力する。例文帳に追加

The quality of the powder material is inspected for each lot of the powder, and an inspection result of the quality for the powder is outputted including the distribution parameter. - 特許庁

前年産麦類の検査の結果、50 Bq/kg を超える放射性セシウムが検出された県においては、全ロット検査を実施する。例文帳に追加

In prefectures where more than 50 Bq/kg of radioactive cesium were detected from inspections on wheat variety grown in the previous year, inspections are conducted on all lots. - 厚生労働省

各製造ロット毎に、複数の工程でそれぞれその製造ロットが処理を受けた設備を特定する設備識別情報Ｄ１と、それらの工程終了後の特性検査工程で得られたその製造ロットの検査結果を表す特性検査情報Ｄ２とを関連付けて単位加工情報Ｕとする。例文帳に追加

Facility identification information D1 for specifying a facility wherein production lots are processed in a plurality of processes, and characteristic inspection information D2 showing an inspection result of each the production lot obtained in a characteristic inspection process after completion of the process are associated and are set as a unit processing information U. - 特許庁

ウェハあるいは複数のウェハにより構成するロット単位での検査を終了し、ロットを回収した後、検査結果に対して再検査要否の判定を行っている場合において、再検査が必要になった際の当該ロットを検査装置への再配置のような生産効率を低下させる工程を必要としない方法の提供。例文帳に追加

To provide a method that does not require a step of lowering production efficiency such as rearrangement of a lot comprising a wafer or a plurality of wafers at an inspection device when the lot needs to be inspected again when, after inspection by lots is completed and the lots are collected, it is determined whether inspection is carried out again for inspection results. - 特許庁

ガスタービンエンジン用ディスクのダブテールスロットの幅を検査する装置及び方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING DOVETAIL SLOT WIDTH FOR GAS TURBINE ENGINE DISK - 特許庁

スロットマシンに関し、特に設定値に関するエラーの発生を検査することができるようにしたものである。例文帳に追加

To especially inspect the occurrence of an error concerning a setting value. - 特許庁

拡張スロット３５により歪められたタイミングが基準スロット３４に影響を及ぼすと同時に、基準スロット３４と同様に動作する並列検査スロット３６、３８にも影響を及ぼすことになる。例文帳に追加

The timing distorted by the extension slot 35 has influence on the reference slot 34, and also on the parallel inspection slots 36 and 38 operated similarly to the reference slot 34. - 特許庁

そして、フラグ付加部２３は、ロット分割部２２によって分割された合格のロットと不合格のロットとに異なるフラグを付加して、バーンイン検査を行なうロットであるか否かを示す情報を付加する。例文帳に追加

A flag adder 23 adds different flags to the passed lot and the rejected lot divided at the lot dividing section 22, thus adding information indicating whether burn-in inspection is performed for that lot or not. - 特許庁

検査不良が多い部品、部品ロット変更、製品変更、フィールド故障部品に対して検査時間を多くし、安定的に動作する部品に対しては検査時間を短くすることで、出荷検査時間を短くし、且つ不良部品をフィールドに流出されないことを実現する半導体装置検査システム、半導体装置検査方法および半導体装置検査プログラムを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor device inspection system, a semiconductor device inspection device, and a semiconductor device inspection program capable of shortening a shipping inspection time by elongating an inspection time for a component having an inspection failure frequently, a component lot change, a product change and a field failure component and by shortening an inspection time for a component operated stably, and preventing outflow of a defective component to a field. - 特許庁

ホストコンピュータ１２は、検査・測定対象ウェハのウェハＩＤを記憶し、それがどのスロットＩＤに入っているかを管理し、対象ウェハの入っているスロットＩＤを検査・測定装置１７へ指示する。例文帳に追加

The host computer 12 stores the wafer IDs of wafers as objects of inspection/measurement and controls slot IDs where the wafer IDs are included so as to find which slot ID includes the target wafer ID, and indicates the slot ID including a target wafer ID to an inspection/measurement device 17. - 特許庁

最小限の検査数で最大限の検査情報を得ることができ、適切なロットの代表値を短時間で効率的に求めることが可能な検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide an inspection system with which maximum inspection information can be obtained with the minimum number of inspections and a representative value of an appropriate lot can efficiently be obtained in short time. - 特許庁

パッケージされた半導体装置の検査において、１ロット分のテスト中に生じた検査用ソケットの電極の接触抵抗の増加による歩留まりの低下を防ぐことができる半導体装置の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method of a semiconductor device, which can prevent the reduction in yield due to increase of contact resistance of electrodes of an inspection socket generated during a test for one lot in the inspection of packaged semiconductor device. - 特許庁

また、無線信号の受信のためアンテナを検査ボード上で且つスロットに近接した位置に設置して、検査環境で過量のノイズが回路の検査に影響するか否かを監視測定する。例文帳に追加

An antenna for receiving radio signals is installed on the inspection board and in proximity to the slot to monitor and measure whether circuit inspection is affected by an excessive amount of noise in an inspection environment. - 特許庁

そして、検査方式決定部１１１は、品質点数算出部１０９が算出した品質点数が低いほど、ロットの検査方式をサンプルサイズが大きい検査方式に決定する。例文帳に追加

Then, an inspection system determination part 111 determines the inspection system of the lot as an inspection system with a larger sample size according as the quality points calculated by the quality point calculation part 109 is low. - 特許庁

バイオセンサー表面の検査方法において、非破壊検査が可能であり、また検査のロット差による影響が小さく、かつ安定な評価結果が得られる方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method which can perform a nondestructive inspection, has a small influence due to a lot difference of inspection, and can obtain a stable evaluation result in the inspection method of the surface of a biosensor. - 特許庁

品質管理装置１は、任意のロットを検査手段２で検査して出力されるロット検査結果を収集・記憶するデータ管理サーバ５と、これに通信回線７を介して接続された演算処理ユニット１０と、これに接続されたディスプレイ２０を備える。例文帳に追加

The quality control system 1 comprises a data control server 5 for collecting/storing the lot inspection results of an arbitrary lot which is inspected and output by an inspection means 2, an arithmetic processing unit 10 connected to the server 5 via communication lines 7, and a display 20 connected to the unit 10. - 特許庁

スロットルプーリボディＷ１とベアリングＷ２とを圧入してなり、スロットルプーリボディＷ１がベアリングＷ２に設けられる部材に対して回転運動可能なスロットルプーリＷの運動抵抗力を検査する。例文帳に追加

A throttle pulley body W1 and a bearing W2 are force-fitted. - 特許庁

環状スロット（１８）と軸方向スロット（２０）の表面の割れについて電磁的に検査する１以上の渦電流プローブ（１１４）を環状スロット（１８）内に配置して用いる。例文帳に追加

The method and system make use of one or more eddy current probes 114 that are placed in the annular slot 18 to electromagnetically inspect the annular slot 18 and the axial slots 20 for cracks in surfaces thereof. - 特許庁

複数のスロットを貫通ブリッジで連結してスロット群を構成し、スロット群を連続ブリッジで連結したスロット型シャドウマスクをＣＲＴに組み込んだ際に発生するスジムラＭ１を、組み込む前に判別するスジムラの検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection method to determine stripped irregularity M1 caused when forming slot groups by connecting a plurality of slots by through bridges and assembling a slot type shadow mask obtained by connecting the slot groups by continuous bridges, before assembling it in a CRT. - 特許庁

後方スプラインパイロットの後方に設けた円筒面をオーバーホール等で部品の機械加工や検査を行なう際に基準面として使用する。例文帳に追加

To use a cylindrical face formed on a rear part of a rear spline pilot as a reference face in machining and checking components in performing an overhaul. - 特許庁

先行処理としてパイロット用の基板に対して一連の処理が実行されると、当該基板は検査ユニット１１に搬送される。例文帳に追加

When a series of processing is performed to a substrate for a pilot as preceding processing, the substrate is carried to an inspecting unit 11. - 特許庁

スペーサのスロット溝の形成状況を簡便かつ正確に検出することのできる光ケーブル用スペーサの検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a spacer for an optical cable, by which the shape conditions of the slot groove of a spacer are detected easily and accurately. - 特許庁

スキップロットサンプリングに関する仮定が成立しない場合であっても、抜取検査を容易且つ高精度に設計する。例文帳に追加

To easily and accurately design a sampling test even in the case that an assumption about skip lot sampling is not true. - 特許庁

被加工物の残留に対しては、金属探知装置４によって容器内部を、専用のマイナス電極を用いることで全ロットを対象に検査する。例文帳に追加

For the residue of the workpiece, the interior of the vessel is inspected by a metal detection device 4 for all lots using a dedicated minus electrode. - 特許庁

記憶素子を実装した記憶素子基板がメインボードのスロットに正常に接続されたか否かを、正確かつ効率的に検査できるようにする。例文帳に追加

To accurately and efficiently inspect whether or not a storage element substrate on which a storage element is mounted has been normally connected to a slot of a main board. - 特許庁

信号受信手段８１がロット番号を含む加工検査開始信号Ｘ１を受信すると、ポジション解放手段８４がポジションを「空き」とする。例文帳に追加

When signal reception means 81 receives a processing inspection start signal X1 including the lot number, position release means 84 sets the position as "vacant". - 特許庁

即ち、決定部５０は、過去の検査結果に基づいて、以降のロット頻度及びウェハ頻度を自動的に変更する機能を有している。例文帳に追加

That is, the decision unit 50 has a function to automatically change the inspection frequency of the lots and the wafers on the basis of the past inspection results. - 特許庁

製造工程数が少なく、検査工程数も少ないパイロット信号用バンドパスフィルタを提供すること。例文帳に追加

To provide a band pass filter for a pilot signal wherein the number of manufacturing processes and the number of inspection processes are little. - 特許庁

操作部材と制御弁群との間のパイロットホースの接続作業を容易にし、また接続部分の検査作業を容易に行なえるようにする。例文帳に追加

To facilitate the connecting works of a pilot hose between an operating member and a control valve group, and to facilitate the inspection works of a connecting section. - 特許庁

このため、乾燥調製貯蔵施設（カントリーエレベーター）又は保管倉庫においてロット単位で検査を実施する。例文帳に追加

Therefore, inspections are conducted by the lot unit* at the country elevators or storage warehouses. - 厚生労働省

本発明の光ケーブル用スペーサの検査方法は、外周面上に光ファイバを収納する複数の螺旋状のスロット溝を有する光ケーブル用スペーサ２を検査するものである。例文帳に追加

The method for inspecting a spacer for the optical cable is for inspecting the spacer 2 for the optical cable, having a plurality of spiral slot grooves which houses the optical fiber on the outer peripheral face of the spacer. - 特許庁

そして、品種変更時には、格納部１４に格納された収集項目に基づき、被検査物の品種、検査期間、日付、ロットを単位とした統計処理を実行し外部の印字部１６から自動的に印字出力する。例文帳に追加

At the time of alteration of the kind, statistic processing setting the kind of the object to be inspected, an inspection period, a date and a lot as units is carried out on the basis of the acquired items stored in the memory part 14 to automatically issue printing output from an external printing part 17. - 特許庁

ポート１１にフープ４０ａ等に収納されてきた半導体ウエハを、移載ロボット１３でロット毎に一枚抜き取り、レジスト除去工程抜け検査手段３０で膜厚計測してレジスト除去工程抜けを検査する。例文帳に追加

One of semiconductor wafers stored in a hoop 40a or the like into a port 11 is sampled for each lot by a transfer robot 13, and its film thickness is measured by the means 30 to check for the missing step. - 特許庁

ＡＰＴＴ測定試薬調製の最終段階、つまり試薬製造後の検査工程において、ロット間及び／又はバイアル間における測定値の違いを反映しうる検査方法を導入することによる。例文帳に追加

In the final stage of a preparation of the APTT measuring reagent, i.e. an inspection process after the reagent is prepared, an inspection method for reflecting differences of measured values between the lots and/or between the vials is introduced. - 特許庁

操作部からメモリカード用スロットに装着された記録メディアへの書込みを要求すると、初期化プログラムが起動し（Ｓ１）、検査部が記録メディアからマークの読込みを行い（Ｓ２）、マークの真否を検査する（Ｓ３）。例文帳に追加

When writing in the recording medium inserted into a memory card slot is requested from an operation part, an initialization program is started (S1), marks are read from the recording medium by a checking part (S2), and authenticity of the read marks is checked by the checking part (S3). - 特許庁