「寿命モデル」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

従って、タイヤの耐久寿命の予測に際して、グローバルモデル計算とローカルモデル計算に分離できるので、計算負荷を軽減しつつタイヤの寿命を予測できる。例文帳に追加

Therefore, since prediction of a lifetime of the tire can be separated into a global model calculation and a local model calculation, the lifetime of the tire can be predicted, while reducing a calculation load. - 特許庁

次に、寿命歪み関係に、任意の電子機器の解析モデルに対する歪みの振幅を代入して、任意の電子機器の解析モデルの寿命サイクル数を求める。例文帳に追加

Then, the distortion amplitude to the analysis model for any electronic equipment is substituted into the life-distortion relation, and a life cycle number of the analysis model of any electronic equipment is determined. - 特許庁

高精度のＮＢＴＩ寿命モデルおよびＴＤＤＢ寿命モデルを新たに作成し、該モデルを使用することにより、高精度で応用範囲の広いＮＢＴＩ劣化シミュレーションおよびＴＤＤＢ故障シミュレーションを実現する。例文帳に追加

To realize NBTI deterioration simulation and TDDB failure simulation which are very accurate and have wide application by creating an accurate NBTI (Negative Bias Temperature Instability) life model and TDDB (Time Dependent Dielectric Breakdown) life model and using them. - 特許庁

配線基板組立体に対応して解析用配線基板組立体モデル３Ｍを設定するモデル設定ステップＳ１と、解析用配線基板組立体モデル３Ｍに対して、線形被害則を用いて構築されたはんだ寿命解析シミュレーションＳｈｚを用いてはんだ１０の寿命を求めるはんだ寿命算出ステップＳ３とを備えた。例文帳に追加

The method comprises a model setting step S1 of setting a wiring board assembly analysis model 3M corresponding to a wiring board assembly; and a solder life calculating step S3 of calculating the lifetime of a solder 10, by subjecting the wiring board assembly analysis model 3M to a solder lifetime analysis simulation Shz constructed by using a linear damage rule. - 特許庁

有限要素解析モデルを作成する時間を短くできると共に、精度良く疲労寿命を予測することができるスポット溶接構造体の疲労寿命予測方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for predicting the fatigue life of a spot-welded structure that can shorten the time to create a finite element analysis model and can predict an accurate fatigue life. - 特許庁

基底膜レベルで一定レベルの皮膚潰瘍を容易に発症し、かつ実験動物モデルとして十分な寿命を有するマウスを提供すること。例文帳に追加

To provide a mouse easily onsetting a skin ulcer of a specific level of a basal lamina level and having an enough life span as a laboratory animal. - 特許庁

本発明の製品寿命分析装置では、新たに更新されたモニタリングデータと、製品の過去の故障データを利用して、製品寿命モデルのパラメータの値を更新することから、過去に保存しているモニタリングデータ全てを利用して、製品寿命モデルパラメータの値を更新するよりも、計算時間を短縮することができる。例文帳に追加

Since a product life analysis apparatus updates parameter values of a product life model by utilizing newly updated monitoring data and past failure data of a product, calculation time can be shortened as compared with a conventional method for updating the parameter values of the product life model by using all monitoring data stored in the past. - 特許庁

信頼性シミュレーションモデルとして、フィッティング誤差やＡＣ固有のホットキャリア劣化による寿命の誤差のないモデルを作成する。例文帳に追加

To improve circuit reliability simulation accuracy by modifying the expression of correlation between the stress and life of an MOS transistor by using a hot carrier life parameter after it is corrected to make a simulated value coincide with an experimented value. - 特許庁

新世代ＧＣ時ヒープ使用量計測手段１によりヒープ使用量を計測して割り付け量、回収量４を求め、既存の分布関数をオブジェクトの寿命分布モデルとして、モデル作成手段２により割り付け量と回収量の関係のモデルを作成する。例文帳に追加

Heap usage is measured by a means 1 for measuring heap usage at new generation GC, to obtain an allocation quantity and a recovery quantity 4, and an existing distribution function is taken as a lifetime distribution model of objects to generate a model of relation between the allocation quantity and the recovery quantity by a model generation means 2. - 特許庁

基板電流モデル，ゲート電流モデルなどによる実験と、シミュレーションのモデル式の作成とを行なった後、ＤＣストレス印加実験を行ない、実験データに基づいてホットキャリア寿命パラメータであるＨ，ｍを補正する。例文帳に追加

A DC stress is applied to a transistor under maximum substrate current conditions or maximum gate current conditions and as a result, a coefficient H and an exponent (m) are corrected in accordance with the voltage acceleration coefficient and the life of obtained data (S2a). - 特許庁

そのモデルとされる武内宿禰も大変に長生きである（しかしながら人間の寿命をはるかに超越しているため多分にフィクションともとれる）。例文帳に追加

The model of this character, TAKENOUCHI no Sukune, lived to a great age (however, as they lived much longer than a human life span, it is taken to be fiction).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

多変量のプロセスの状態と消耗品使用時間の関係モデルより消耗品の寿命を管理することができる半導体装置の研磨技術を提供する。例文帳に追加

To provide polishing technology for a semiconductor device capable of managing a service life of a consumable by a relation model between a multivariate process state and service-hours of the consumable. - 特許庁

ＢＧＡ／ＣＳＰをプリント配線基板へ実装した構造モデルを用いて、はんだ接合部の熱ひずみシミュレーション及び寿命予測を短時間でしかも精度良く解析できるようにする。例文帳に追加

To make precisely analyzable the thermal strain simulation of a solder bonding part and the life prediction in a short time by using a structure model mounting BGA/CSP onto a printed wiring board. - 特許庁

寿命要因外で廃棄扱いとなった異なる様々な製品構成の製品から再生対象モデルへの組換えを、救済し易い回収機の順に救済可能とする。例文帳に追加

To provide a means enabling to remedy a recombination from products of various different product constitutions, which is treated as the scrap by the reasons except lifetime, to a reproduction object model in the order of redeemable recovery machines. - 特許庁

有限要素法によってグロメット内の電線束の屈曲寿命を予測する場合に、モデル化が容易で且つ有限要素法に係るコンピュータの計算処理負荷を低減する。例文帳に追加

To reduce a calculation process load on a computer in which modeling is easy and which is related to a finite element method, in the case of predicting bending life of a wire bundle in a grommet using a finite element method. - 特許庁

プラントを構成する各種設備機器を管理するための設備管理システムであって、機能部及び属性部を有する劣化モデル部、ストレス情報部、余寿命予測部、及び比較部から構成される。例文帳に追加

This equipment management system for managing various pieces of equipment constituting a plant comprises a deterioration model part having a function part and an attribute part, a stress information part, a residual life span predicting part and a comparing part. - 特許庁

本発明は、タイヤにおける各部材の間に存在する相互干渉を考慮したモデルを用いることにより、タイヤの寿命をより正確に予測することができる。例文帳に追加

To use a model taking mutual interference between respective members in a tire into consideration for more precisely predicting a lifetime of the tire. - 特許庁

応力ひずみ解析のためのモデル化、有限要素法解析、余寿命や応力−ひずみ分布等の結果表示を簡単な操作でしかも短時間で行うための応力ひずみ解析システムを提供する。例文帳に追加

To provide a stress strain analyzing system for displaying the results of model formation for analyzing stress strains, of analysis by a finite element method, of a remaining life, and of a stress-strain distribution by a simple operation in a short time. - 特許庁

次に、リングオシレータにストレス印加実験を行って、リングオシレータの寿命と電圧加速係数とを求め、実験データの電圧加速係数に合わせて、ｍ，Ｈを順次補正して、この方正に応じてモデル式を修正する。例文帳に追加

An index (m) of an N-type MOS transistor is corrected in accordance with the obtained voltage acceleration coefficient of stress application of a ring oscillator (S2c). - 特許庁

各電線の径及び個数を入力し、経験的に導き出された所定の演算式で電線束をモデル化した仮想電線の径を演算し、これに基づいて仮想電線の屈曲寿命予測を行う。例文帳に追加

Diameters and the number of wires are inputted, a diameter of virtual wires modeling after a wire flux is calculated by a given arithmetic expression experientially derived, based on which, flexural life of the virtual wires is forecast. - 特許庁

有限要素法解析手段１４はこの解析モデル１３と汎用有限要素法プログラムとを用いて応力−ひずみ関係を計算し、寿命予測手段１５及びグラフ作成手段１６に伝達する。例文帳に追加

A finite element method analytical means 14 computes the relation between stress and strain through the use of both the analytical model 13 and a general-purpose finite element method program and transmits the relation to both a remaining life predicting means 15 and a graph creating means 16. - 特許庁

シェルモデルによる有限要素解析を行い、ロンジフェイス２１の疲労寿命評価部２３における一様応力成分と曲げ応力成分を求める。例文帳に追加

Finite element analysis by a shell model is performed, and a uniform stress component and a bending stress component at a fatigue life evaluation part 23 of a longitudinal face 21 are determined. - 特許庁

中央監視センターにおいては、当該プラントから送信されてくる運転情報に含まれる各種データ、および消耗部品の耐性指標となる測定量に基づいて当該消耗部品の寿命予測モデルを作成する。例文帳に追加

In the central monitor center, the life prediction model of a consumable component is prepared based on various data included in operation information transmitted from the plant and measurement quantity as the durability index of the consumable component. - 特許庁

これにより、タイヤの耐久寿命の予測について、ゴムの機械的・化学的な時系列変化、亀裂進展のモデル化、タイヤの内部発熱・内外部との伝熱を基にしたタイヤの温度予測、及び摩耗によるトレッド部の形状変化のうち、個別または予め定めた部位または全てを考慮してタイヤの寿命を予測できる。例文帳に追加

The lifetime of the tire is estimated by considering individual parts, predetermined parts or all parts of the change in the mechanical or chemical time series of rubber, modeling of crack propagation, the tire temperature estimation based on the internal heat generation/heat transfer to the inner and outer sides of the tire, and the shape change of a tread part by the wear. - 特許庁

有効酸化膜厚モデルを用いた半導体素子の絶縁膜の評価方法において、絶縁破壊電圧Ｖ_BDを測定する際の判定電流の簡易且つ適切な設定方法を提供し、複雑な計算を必要とせずに信頼性の高い絶縁破壊寿命ｔ_BDの予測を行う。例文帳に追加

To provide a method by which the dielectric break service life of the insulating film of a semiconductor element can be predicted with high reliability without requiring complicated calculations by easily and appropriately setting discriminating currents, which are used at the time of measuring the dielectric break voltage of the insulating film for a method for evaluating the insulation of film for semiconductor element. - 特許庁

故障診断部（１０４）は、故障診断モデルを用いた故障診断において、再利用部品は新品の部品に比べて寿命が短い等、再利用部品であることに基づく故障原因確率の上昇等を加味してより正確な故障診断を行う。例文帳に追加

When performing failure diagnosis by using the failure diagnosis model, the failure diagnosing part (104) performs more accurate failure diagnosis by adding the increase of failure factor probability due to the fact that the components are the reused ones, such that the service life of the reused components are shorter than that of new components. - 特許庁

ニューラルネットワーク部４１のモデル化に用いたデータの範囲外のデータが入力された場合でも、ニューラルネットワーク部４１の出力因子に基づく推定値、例えば油入変圧器の余寿命推定値の精度の信頼度を直ちに算出できる信頼度評価装置１０等を提供する。例文帳に追加

To provide a reliability evaluation device 10 or the like capable of immediately calculating the reliability of the accuracy of an estimated value based on an output factor of a neural network section 41, for example a residual life estimated value of an oil immersed transformer, even when data out of the range of the data used for modeling the neural network section 41 is input. - 特許庁

多層配線構造を有する半導体装置の配線設計方法において、エレクトロマイグレーションによる配線寿命を、配線１１，１２と上下各配線を接続するビア１２の接続部近傍で発生するボイド１４の潜伏期及び成長期によって分類した異なった予測モデルにより予測し、配線設計を行う。例文帳に追加

The wiring design method for a semiconductor device having a multilayer wiring structure estimates a wiring life influenced by electromigration on the basis of a variety of estimation models in which levels of the void 14 formed in the vicinity of a connecting part between wirings 11, 13 and a via 12 interposed between are classified into a latent period and a growth period to design the wirings. - 特許庁