「予備試験装置」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

冷熱衝撃試験装置１は、予備試験において環境温度検知センサ９によって検知される試験環境の雰囲気温度が所定の設定温度に到達するまでの時間と、試料Ｗ自身の温度が所定の設定温度に到達するまでの時間との差異時間を記憶しておく。例文帳に追加

The thermal shock testing device 1 stores a difference time between a time until an ambient temperature in a testing environment detected by an environment temperature detecting sensor 9 reaches a prescribed temperature, and a time until a temperature of the sample W itself reaches the prescribed temperature, in a preliminary test. - 特許庁

被試験メモリの本体メモリと予備メモリとの全体の不良を考慮した冗長救済判定を、試験装置のメモリ回路を抑制して実施する。例文帳に追加

To execute redundancy relief judgment considering the entire defects of a main body memory and an auxiliary memory of a memory to be examined, while controlling a memory circuit of a testing device. - 特許庁

継電器側に接続コネクタを設けるための予備的作業及び加工を必要とせず、特性試験を短時間で安全にかつ簡単に行うことができる継電器の特性試験用補助装置を提供する。例文帳に追加

To safely and easily conduct a characteristic test in a short time without requiring any preparative work and working for providing a connection connector in a relay side. - 特許庁

装置内に予備送信機６及び予備受信機８を診断するための、高周波折り返し試験機１１、電力減衰器１２、誤り率監視部１４、各切替器及び折り返し制御部１３を設ける。例文帳に追加

Within the unit, a high-frequency return tester 11, a power attenuator 12, an error rate monitoring section 14, respective switchers and a return control section 13 are provided for diagnosing a reserve transmitter 6 and a reserve receiver 8. - 特許庁

予備吸引用の排気ポンプ４４は、予備吸引用弁Ｖ６〜Ｖ９を介して、測定前に予備吸引を行って、サクションカップ２１，２２，２３ａ，２３ｂが収集した試験対象部位の雰囲気をガス測定装置４９の近傍まで引き込む。例文帳に追加

A preliminary sucking exhaust pump 44 preliminarily sucks prior to measurement via preliminary sucking valves V6-V9 to suck the atmospheric air at sites to be tested collected by the suction cups 21, 22, 23a, 23b into proximity with the gas-measuring device 49. - 特許庁

光通信システムは、局側装置に設けられる予備系インタフェースと、予備系インタフェースの正常性を確認するための光ループバック手段と、光ループバック手段を介して実施される予備系インタフェースによる光ループバック試験の結果を基に、当該予備系インタフェースが正常であることを検知する検知手段とを備える。例文帳に追加

The optical communication system is provided with a backup interface provided on a station side apparatus, an optical loop back means for recognizing the normality of the backup interface, and a detecting means for detecting that the backup interface is in a normal state on the basis of a result of an optical loop back test executed by the backup interface via the optical loop back means. - 特許庁

水熱反応条件を決定するための予備試験が不要であり、且つ、水熱処理に投入される有機性汚泥の性状が変動した際にも対応することのできる燃料製造方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fuel production method and a device, requiring no preliminary test for determining hydrothermal reaction conditions and capable of dealing with the change of properties of the organic sludge added to the hydrothermal treatment. - 特許庁

ＣアームＸ線装置等の衝突防止のための患者の身体マップの容積測定再構成において、画質を改善すると共に、高速取得段階の前の予備的な衝突防止試験段階を不要にする。例文帳に追加

To improve image quality and to eliminate the need of preliminary collision prevention test stage before a high-speed acquiring stage in the volume measurement reconstruction of a patient's body for collision prevention such as C-arm X-ray device. - 特許庁

障害のため光パスが現用系から予備系に切替わると、光パスの端点に位置するネットワークノード装置１０ａから発信された試験用光信号が、現用系光パス上のネットワークノード装置１０ｂ，１０ｃ，…，１０ｈにより夫々ループバックされる。例文帳に追加

When an optical path is switched from a current system to a reserve system due to hindrance, an optical signal for a test transmitted from a network node device 10a positioned at the end point of the optical path is looped back by network node devices 10a, 10c, etc. and 10h on the optical path of the current system. - 特許庁

複数のノードが光ケーブルによりリング状に接続して構成される光リング型ＬＡＮシステムにおいて、システム全体の故障率を低下させず、かつ接続ミスを発生させることなく通常は使用することのない試験装置や予備装置を接続することができるようにする。例文帳に追加

To connect a testing device and standby equipment that are not normally used without lowering the failure rate of the entire system nor generating connection errors in an optical ring type LAN system formed by connecting a plurality nodes in a ring shape by an optical cable. - 特許庁

シリコン半導体装置の製造過程における洗浄装置ライン構成について、新たに採用した材料に由来するクロス汚染を排除しつつ、薬液の共用化を進める際、最小限の予備的な試験検討に基づき、合理的に短時間に、ウエットプロセス処理において薬液を共用化できる処理を選別する方法の提供。例文帳に追加

To provide a method, capable of rationally selecting a wet processing treatment, where chemicals can be shared, in a short time resting on a minimum preliminary test when utilization of common chemicals is promoted eliminating cross contamination caused, by newly adopted materials in a cleaning device line configuration in a silicon semiconductor device manufacturing process. - 特許庁