例文 (21件) |
不合格になるの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 21件
不合格になる例文帳に追加
to be disqualified―be rejected―be condemned - 斎藤和英大辞典
言い換えると、不合格の場合には、1つの底における素数判定で不合格となる傾向がある。例文帳に追加
In other words, when the candidate fails in the test, the candidate tends to fail in the prime number judgment on one base. - 特許庁
彼も不合格ならば我が校は枕を並べて討ち死にしたことになる.例文帳に追加
If he failed, all the applicants from our school will have failed too. - 研究社 新和英中辞典
検査ポイント以外であればS11に戻って次の回路チェックを行い、検査ポイントである場合にはS16で不合格表示となる。例文帳に追加
When the circuit is out of the inspection point, the next circuit checking is performed after returning to S11, and when the circuit is on the inspection point, 'unacceptable' is displayed in S16. - 特許庁
また、導通検査が不合格の半導体装置1Aは分解工程dにおいて分解され、その後の検査で不良原因が明らかになる。例文帳に追加
Further, a semiconductor device 1A which does not have passed the continuity inspection is disassemble in the disassembling step (d) and the cause of a defect is found through subsequent inspection. - 特許庁
検査対象となるバンド91の浮き量CLのいずれかが閾値TH1を超える場合には、当該バンド91は「不合格品」と判定する。例文帳に追加
When any one of floating quantities CL of the band 91 to be inspected exceeds the threshold TH1, the control part determines the band 91 as a defective product. - 特許庁
電気的特性試験で不合格とされた半導体素子にインクによってバッドマークを形成する方法では、インク径のばらつき等によるマークの不均一性によって識別ミスが発生する虞れがあるうえ、不合格品の再生も困難になる。例文帳に追加
To enable precise discrimination between passing or failure of a semiconductor element in an electrical characteristic test, by leaving a resist film to only one of semiconductor elements considered as acceptable and unacceptable in the electrical characteristic test and in the subsequent steps, through determination depending on the presence of the resist film on the semiconductor element that the element is acceptable or unacceptable. - 特許庁
不合格になるシステム試験の全ての原因となり得る診断の候補を生成するステップ110と、全ての不合格となるシステム試験にわたる診断候補のバイオレーションのない結合利用率に基づいて、診断候補に重みを割り当てて、重みによって、診断候補が正しいという確信レベルが表示されるようにするステップ120とを有する。例文帳に追加
The method comprises: a step 110 for generating diagnosis candidates potentially responsible for all failed system tests; and a step 120 for allowing a confidence label representing that diagnosis candidates are correct to be displayed by means of weights by assigning the weights to the diagnosis candidates based on a combined utilization rate without having violation of the diagnosis candidates across all failing system tests. - 特許庁
より詳細には、各個々のコンデンサを「予め試験」して「エージング」することができるので、完成コンデンサアセンブリがその性能試験で不合格になることになる可能性は最小である。例文帳に追加
More specifically, because each individual capacitor may be "pre-tested" and "aged", a likelihood that the final capacitor assembly fails in its performance test is minimal. - 特許庁
これにより、問題となる高さの突起がディスクに存在しなくても、ディスクの表面のうねりが原因で発生する誤書込や誤読出あるいはクラッシュとなるような不合格なディスクを抽出することができる。例文帳に追加
Thus, it is possible to extract a defective disk which causes erroneous write and/or read or crash due to the surface undulation of disk, even when the protrusion of a height becoming a problem is not present on the disk. - 特許庁
検査の精度を高めることができるとともに、正常品が不合格になるのを防止するために、検査装置に対するセットをやり直して再検査を行う手間をなくすことができるセンサーユニット検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a sensor unit inspection device capable of enhancing precision of inspection, and capable of eliminating labors and times of resetting an inspection device to execute reinspection, in order to prevent a normal article from getting defective. - 特許庁
かつて徴兵制度が実施されていた時代に、検査の前日に大量の醤油を飲むことによって体調を崩し不合格となるといったことが、兵役を逃れる目的で実際に行われていたとされる。例文帳に追加
It is said that some people actually drank a large amount of soy-sauce on the day before the induction exam in order to become ill and to evade military service when the conscription system was implemented. - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
そして、フラグ付加部23は、ロット分割部22によって分割された合格のロットと不合格のロットとに異なるフラグを付加して、バーンイン検査を行なうロットであるか否かを示す情報を付加する。例文帳に追加
A flag adder 23 adds different flags to the passed lot and the rejected lot divided at the lot dividing section 22, thus adding information indicating whether burn-in inspection is performed for that lot or not. - 特許庁
一方、部品メーカー側端末装置400は、送信されてきた情報を受信し受信した情報を格納するので、製品製造の不合格判定結果が出た場合に速やかに部品発注を行えるようになる。例文帳に追加
A component-maker side terminal device 4009 receives and stores, the sent information and then can speedily order components if a defective decision on product manufacture is made. - 特許庁
診断結果は、合格、不合格のような2段階の評価の他に、ABCのような複数段階の診断結果で表示すると、ユニバーサルデザインの基準への到達度がより明確となる例文帳に追加
The diagnostic result is indicated by multiple grades such as ABC in addition to two-stage evaluation such as success/failure, so that a degree of satisfying the criterion of the universal design becomes clearer. - 特許庁
測定時間が短いと判定された測定時間に係わる測定を先に行うので、測定時間が短い測定に基づく検査で部品が不合格になる部品に対してまでも時間をかけて測定する無駄がなくなり、効率のよい動作で部品の検査並びに搭載を行うことが可能になる。例文帳に追加
Since the measurement judged to have a shorter measuring time is performed first, such components as will be rejected by the inspection based on the measurement of shorter measuring time are not measured uselessly and the component can be inspected and mounted through efficient operation. - 特許庁
本発明のNC加工装置10では、ワークWを治具14に固定した状態のままで、補正加工用NCデータを自動的に生成して補正加工を施すので、従来より不合格品の発生を減らし、補正加工が必要なワークを迅速に処理することが可能になる。例文帳に追加
The NC machining device 10 automatically generates corrective working NC data while fixing a workpiece W on a jig 14 and correctively works on it, whereby the occurrence of rejected products is reduced compared with conventional ones and the workpieces requiring the corrective work can be quickly handled. - 特許庁
本発明のNC加工装置10では、ワークWを治具14に固定した状態のままで、補正加工用NCデータを自動的に生成して補正加工を施すので、従来より不合格品の発生を減らし、補正加工が必要なワークを迅速に処理することが可能になる。例文帳に追加
The NC machining device 10 automatically generates NC data for corrective work while a work-piece W is fixed on a jig 14, and applies the corrective work on it, so that the occurrence of rejected products can be reduced compared with conventional ones to quickly handle the work-pieces requiring the corrective work. - 特許庁
基準電圧回路11〜14,15〜18のうち、ある基準電圧回路が不合格と判断された場合には、合格と判断された基準電圧回路のみトリミングを行い、基準電圧V_REF が設計値により近くなるように設定する。例文帳に追加
The setting is performed so that the reference voltage VREF may come closer to the design value, by performing the trimming for only the reference voltage circuit being decided to be up to the standard, if any reference voltage circuit is decided to be short of standard among the reference voltage circuits 11-14 and 15-18. - 特許庁
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