例文 (999件) |
でんけんてきの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 49976件
電気的接続検査装置例文帳に追加
電子顕微鏡および電子顕微鏡用TV検出器例文帳に追加
ELECTRON MICROSCOPE AND TV DETECTOR FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
電子顕微鏡システム例文帳に追加
ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM - 特許庁
電気検査システム例文帳に追加
ELECTRICAL INSPECTION SYSTEM - 特許庁
電動接点研磨器例文帳に追加
ELECTRIC CONTACT GRINDER - 特許庁
電子割引券システム例文帳に追加
ELECTRONIC COUPON SYSTEM - 特許庁
低電圧検出器例文帳に追加
LOW VOLTAGE DETECTOR - 特許庁
電子キー検索システム例文帳に追加
ELECTRONIC KEY SEARCH SYSTEM - 特許庁
電源検査用測定器例文帳に追加
MEASURING DEVICE FOR POWER SOURCE INSPECTION - 特許庁
遺伝的見地からは例文帳に追加
Is that, from a genomic perspective - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
電気的試験システム及び電気的試験方法例文帳に追加
ELECTRIC TEST SYSTEM AND ELECTRIC TEST METHOD - 特許庁
遺伝子の電気化学的検出方法例文帳に追加
ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD FOR GENE - 特許庁
電気牽引車用電源システム例文帳に追加
POWER SUPPLY SYSTEM FOR ELECTRIC TRACTOR - 特許庁
電気システムの電圧検出装置例文帳に追加
VOLTAGE DETECTOR FOR ELECTRICAL SYSTEM - 特許庁
電気泳動兼転写用積層体、電気泳動兼転写用チップ、電気泳動兼転写装置、電気泳動兼転写方法、電気泳動兼転写用積層体の製造方法例文帳に追加
LAMINATE, CHIP, APPARATUS, AND METHOD FOR ELECTROPHORESIS-CUM-TRANSFER AND METHOD FOR MANUFACTURING THIS LAMINATE - 特許庁
電気化学センサー、電気化学的検出装置及び電気化学的検出方法例文帳に追加
ELECTROCHEMICAL SENSOR, ELECTROCHEMICAL DETECTION DEVICE AND ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD - 特許庁
平面回路基板の電気検査装置及び電気検査方法例文帳に追加
ELECTRIC INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR PLANAR CIRCUIT BOARD - 特許庁
電気化学的機械研磨のための導電性研磨用品例文帳に追加
CONDUCTIVE POLISHING ARTICLE FOR ELECTROCHEMICAL MECHANICAL POLISHING - 特許庁
電気化学的機械研摩の為の導電性研磨物例文帳に追加
CONDUCTIVE POLISHING OBJECT FOR ELECTROCHEMICAL MECHANICAL POLISHING - 特許庁
電気的検査方法及び検査ステージ並びに検査装置例文帳に追加
ELECTRICAL INSPECTION METHOD, INSPECTION STAGE, AND INSPECTION APPARATUS - 特許庁
高低圧用検電器の耐電圧試験方法および耐電圧試験装置例文帳に追加
WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD AND WITHSTAND VOLTAGE TEST DEVICE FOR HIGH AND LOW VOLTAGE DETECTOR - 特許庁
地絡電流検出器、地絡電流検出システムおよび地絡電流検出方法例文帳に追加
GROUNDING CURRENT DETECTOR, DETECTION SYSTEM, AND DETECTION METHOD - 特許庁
電気的試験用装置及び電子装置の電気的試験方法例文帳に追加
ELECTRICAL TESTING DEVICE AND ELECTRICAL TESTING METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE - 特許庁
電子顕微鏡システム及び電子顕微鏡法例文帳に追加
ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE METHOD - 特許庁
電子顕微鏡の運転方法及び電子顕微鏡例文帳に追加
OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
回転電機の電機子検査方法及びその検査装置例文帳に追加
ARMATURE INSPECTION METHOD OF DYNAMO-ELECTRIC MACHINE, AND ITS INSPECTION DEVICE - 特許庁
検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法及び検出セット例文帳に追加
ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF DETECTION SUBSTANCE, ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE AND DETECTION SET - 特許庁
電気的引き剥がし検知シート例文帳に追加
ELECTRICAL TEAR-OFF DETECTING SHEET - 特許庁
検査品の電気的検査のための検査装置例文帳に追加
INSPECTION DEVICE FOR ELECTRIC TEST FOR INSPECTION ARTICLE - 特許庁
電子機器の点検サービスシステム例文帳に追加
INSPECTION SERVICE SYSTEM FOR ELECTRONIC DEVICE - 特許庁
伝統的な建築方法と違って例文帳に追加
And unlike traditional architecture - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
電磁波検出器及び電磁波検出システム例文帳に追加
ELECTROMAGNETIC WAVE DETECTOR AND ELECTROMAGNETIC WAVE DETECTION SYSTEM - 特許庁
電子乗車券を用いた電子的な検札を可能にする。例文帳に追加
To enable electronic ticket inspection using an electronic train ticket. - 特許庁
試験電圧電流遠隔検出交流測定器例文帳に追加
REMOTE SENSING ALTERNATING CURRENT MEASURING INSTRUMENT FOR TESTING VOLTAGE/CURRENT - 特許庁
電流検出部20は、検出用電流を検出して、出力電流を間接的に検出する。例文帳に追加
A current detecting section 20 can detect the current for detecting and finally detect the output current indirectly. - 特許庁
簡易点検機能を有した電子機器例文帳に追加
ELECTRONIC EQUIPMENT HAVING SIMPLIFIED INSPECTION FUNCTION - 特許庁
電動ステージ付き顕微鏡例文帳に追加
MICROSCOPE WITH MOTOR DRIVEN STAGE - 特許庁
静電位測定器、除電器および静電位測定器兼用除電器例文帳に追加
ELECTROSTATIC POTENTIAL MEASURING APPARATUS, STATIC ELIMINATOR AND STATIC ELIMINATOR ALSO SERVING AS ELECTROSTATIC POTENTIAL MEASURING APPARATUS - 特許庁
電子乗車券、自動券売システムおよび自動券売機例文帳に追加
ELECTRONIC TRAIN TICKET, TICKET VENDING SYSTEM AND TICKET VENDING MACHINE - 特許庁
定電位電解型ガス検出器用電極体例文帳に追加
ELECTRODE BODY FOR CONTROLLED POTENTIAL ELECTROLYSIS TYPE GAS DETECTOR - 特許庁
検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法、検査チップ、検出セット、プローブ保持基板および電極基板例文帳に追加
ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF DETECTION SUBSTANCE, ELECTROCHEMICAL DETECTION METHOD OF TEST SUBSTANCE, INSPECTION CHIP, DETECTION SET, PROBE HOLDING SUBSTRATE AND ELECTRODE SUBSTRATE - 特許庁
被験電気部品を検査するための電気的接触装置および電気的検査装置例文帳に追加
ELECTRIC CONTACT APPARATUS AND ELECTRIC INSPECTION APPARATUS FOR INSPECTING SUBJECT ELECTRIC COMPONENT - 特許庁
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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