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EdXとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 エネルギー分散形X線分光器
Weblio英和対訳辞書での「EdX」の意味 |
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EdX
EDX
edX
「EdX」を含む例文一覧
該当件数 : 26件
For example, at edx例文帳に追加
例えば edxでは - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
For example, at edx例文帳に追加
例えば edXでは - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
In fact, with edx, when we were teaching our first course例文帳に追加
実際 私たちがedXで 最初のクラスである - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
In fact, with edx, when we were teaching our first course例文帳に追加
実際 私たちがedxで 最初のクラスである - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
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「EdX」を含む例文一覧
該当件数 : 26件
To measure the presence of an objective element by a TEM-EDX, in a thermoplastic resin.例文帳に追加
熱可塑性樹脂において、対象元素の有無をTEM−EDXで測定できる方法の提供。 - 特許庁
The sample is introduced in a sample chamber in the EDX analyzer 9 and irradiated with electron rays, and then a characteristic X-ray peak of a nitrogen element is analyzed from an EDX spectrum, thereby checking the presence of the lithium.例文帳に追加
EDX分析装置9内の試料室へ試料を導入し、試料に電子線を照射しEDXスペクトルより、窒素元素の特性X線のピークを分析することにより、リチウムの存在が可能となる。 - 特許庁
By also using the EDX, inorganic/organic foreign bodies can be identified, and thereby the foreign body can be analyzed with high throughput.例文帳に追加
またEDXとの併用で無機/有機異物ともに同定可能となり、異物分析を高スループットに行うことができる。 - 特許庁
To provide a sample allowing simultaneous observation/EDX measurement of an index sample and an analyte sample under the same condition.例文帳に追加
同一条件の下で指標試料と検体試料を同時に観察・EDX測定できる試料を提供する。 - 特許庁
Such a CCD array supplies better energy resolution than that of a conventional EDX detector.例文帳に追加
このようなCCDアレイは従来のEDX検出器と比較して良好なエネルギー分解能を供給する。 - 特許庁
An electron beam apparatus has an electron beam diffraction image analyzing part 3 for calculating lattice spacing based on a diffraction image taken in by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, an EDX analyzing part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identifying part 4 provided with a database for retrieval for identifying the substance and a database retrieving function.例文帳に追加
電子線装置に、電子線回折像観察用TVカメラ10によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部3、EDX検出器9に接続され物質組成を求めるEDX分析部2、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部4を有する。 - 特許庁
This system has an electron beam diffraction image analytical part 3 for calculating a lattice spacing from an electron beam diffraction image picked up by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, in an electron beam device, an EDX analytical part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identification part 4 provided with a database for retrieval for substance identification, and a database retrieval function.例文帳に追加
電子線装置に、電子線回折像観察用TVカメラ10によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部3、EDX検出器9に接続され物質組成を求めるEDX分析部2、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部4を有する。 - 特許庁
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