電流テストの英語

ハードディスク電流のテストシステム及びそのアダプターボード例文帳に追加

HARD DISK CURRENT TEST SYSTEM AND ADAPTER BOARD THEREFOR - 特許庁

ストレス印加テスト時の消費電流の増大を抑制する。例文帳に追加

To reduce an increase in current consumption during a stress test. - 特許庁

スキャンテスト時に瞬間的に流れる大電流を大幅に低減する。例文帳に追加

To reduce greatly a heavy current flowing momentarily at a scan test time. - 特許庁

増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。例文帳に追加

To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small. - 特許庁

そして、２つのテストパッド間を接続する配線を切断することで、該２つのテストパッドを電流測定用テストパッドとして利用する。例文帳に追加

The two test pads are used as test pads for measuring current, by cutting wiring for connecting the two test pads. - 特許庁

スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。例文帳に追加

In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty. - 特許庁

テストモードにおいて、電流切換回路１２０および１３０は、アクセス電流Ｉａｃおよび基準電流Ｉｒに代えて、同一のテスト電流ＩｔをノードＮｃおよびＮｄへ流す。例文帳に追加

In a test mode, current switching circuits 120 and 130 makes the same test current It flow in the nodes Nc and Nd in stead of the access current Iac and the reference current Ir. - 特許庁

過電流保護回路、過電流保護回路を備える半導体装置及び過電流保護回路の動作テストの方法例文帳に追加

EXCESS CURRENT PROTECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATION TEST THEREOF - 特許庁