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電子後方散乱の英語
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英訳・英語 electron backscattering
「電子後方散乱」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 63件
後方散乱電子による電子チャンネリングパターンの形成は、相反定理により後方散乱電子回折パターンの形成と関係している。例文帳に追加
The formation of the electron channeling pattern by backscattered electrons is related to that of the electron backscatter diffraction pattern by the reciprocal theorem.発音を聞く - 科学技術論文動詞集
電子後方散乱回折像のコントラスト改善方法、及び装置例文帳に追加
CONTRAST IMPROVING METHOD OF ELECTRON BACKSCATTERING DIFFRACTION IMAGE, AND DEVICE - 特許庁
後方散乱電子回折(EBSD)パターンの磁場歪みを修正すること。例文帳に追加
To correct magnetic field distortions in an electron backscatter diffraction (EBSD) pattern. - 特許庁
後方散乱電子回折パターンの歪みを修正する方法例文帳に追加
METHOD OF CORRECTING DISTORTION IN ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION PATTERN - 特許庁
試料6からは、2次電子、後方散乱電子及び反射電子8が発生する。例文帳に追加
From the sample 6, secondary electrons, backward diffused electrons, and reflected electrons 8 are generated. - 特許庁
後方散乱電子の情報の深さは、試料密度と電子エネルギーに依存する。例文帳に追加
The information depth of backscattered electrons depends on the density of the specimen and the electron energy.発音を聞く - 科学技術論文動詞集
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「電子後方散乱」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 63件
後方散乱電子のエネルギーは、一次電子のエネルギーから約50eVにわたる。例文帳に追加
The energies of backscattered electrons range from the energy of the primary electrons to about 50 eV.発音を聞く - 科学技術論文動詞集
SEMにおける最も重要な信号は、二次電子と後方散乱電子によって作られる。例文帳に追加
The most important signals in SEM are produced by secondary and backscattered electrons.発音を聞く - 科学技術論文動詞集
試料6に対して走査する電子線(入射線)を断続的に照射し、該電子線が試料6に照射されたときに発生する後方散乱電子を後方散乱電子検出器22で検出し、時間差検出部53により、試料6に照射される電子線と後方散乱電子検出器22で検出した後方散乱電子との時間差を比較計測し、試料表面の形状を測定する。例文帳に追加
Scanning electron rays (incident rays) are intermittently applied to a sample 6, backscattering electrons generated when the electrons are applied to the sample 6 are detected by a backscattering electron detector 22, and the time difference between the electrons applied to the sample 6 and the backscattering electrons detected by the backscattering electron detector 22 is compared and measured, thus measuring the shape of a sample surface. - 特許庁
その後、劣化領域における電子後方散乱回折像を撮像する(ステップS13)。例文帳に追加
Thereafter, the electron backscattering diffraction image in the deteriorated domain is imaged (step S13). - 特許庁
さらに、試料の観察領域における電子後方散乱回折像を撮像する(ステップS14)。例文帳に追加
Then, the electron backscattering diffraction image in the observation domain of the sample is imaged (step S14). - 特許庁
後方散乱電子回折(EBSD)パターンの磁場歪みを修正する方法が提供される。例文帳に追加
A method is provided for correcting magnetic field distortions in the electron backscatter diffraction (EBSD) pattern. - 特許庁
広スペクトラム変調方式による後方散乱式電子式棚ラベルシステム例文帳に追加
BACKSCATTER ELECTRONIC SHELF LABEL SYSTEM BY WIDE SPREAD SPECTRUM MODULATION SYSTEM - 特許庁
電子ビームの後方散乱によるレジストへの露光を小さくして微細なパターンを形成する。例文帳に追加
To form fine patterns which reduces the exposure to resist by back ward scattering of an electron beam. - 特許庁
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