電子分光測定の英語

電圧印加下における電子分光測定装置例文帳に追加

ELECTRONIC SPECTROSCOPIC MEASURING APPARATUS UNDER VOLTAGE IMPRESSION - 特許庁

電子分光装置及びそれを用いた測定方法例文帳に追加

ELECTRONIC SPECTROMETER - 特許庁

光電子分光装置を用いた測定方法及び試料前処理方法例文帳に追加

MEASURING METHOD USING PHOTOELECTRON SPECTROSCOPE AND PRE-TREATING METHOD FOR SAMPLE - 特許庁

エネルギースペクトル測定装置，電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法例文帳に追加

ENERGY SPECTRUM MEASURING DEVICE, ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE HAVING THIS DEVICE AND ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD - 特許庁

電子線エネルギー分光器付き電子顕微鏡による元素濃度測定方法及びこれを備えた装置例文帳に追加

ELEMENT CONCENTRATION MEASURING METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPE AND DEVICE PROVIDED THEREWITH - 特許庁

簡易かつ廉価に、電子−電子−イオンコインシデンス分光、電子−電子コインシデンス分光及び電子−イオンコインシデンス分光を高効率で測定し得る新規な電子−電子−イオンコインシデンス分光器と、電子−電子−イオンコインシデンス分光法、電子−電子コインシデンス分光法及び電子−イオンコインシデンス分光法とを提供する。例文帳に追加

To provide an electron-electron-ion coincidence spectroscope, electron-electron-ion coincidence spectroscopy, electron-electron coincidence spectroscopy, and electron-ion coincidence spectroscopy all of which have a simple structure and can be produced at a low cost. - 特許庁

テラヘルツ光を照射した同時刻のイベントの分光測定を行うテラヘルツ波電子線分光測定方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a terahertz wave electron beam spectrometry and a device therefor for performing spectrometry of an event at the same time as irradiation of terahertz light. - 特許庁

電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法例文帳に追加

ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH, AND ELECTRON ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD - 特許庁