電子エネルギー損失スペクトルの英語

電子エネルギー損失分光分析装置およびそのスペクトルシフト補正方法例文帳に追加

ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROCHEMICAL ANALYZER AND ITS SPECTRAL SHIFT CORRECTING METHOD - 特許庁

低倍率でも、エネルギー精度の高い電子線エネルギー損失スペクトルや元素分布像を観察できる。例文帳に追加

The electron beam energy loss spectrum and the element distribution image with high energy precision can be observed even at the low magnification. - 特許庁

エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope for highly efficiently and highly accurately correcting differences in electron energy-loss spectra between measuring positions on electron energy-loss spectral images formed of two axes of the amount of an energy loss and measuring position information. - 特許庁

取り込んだ後、電子線エネルギー損失スペクトル自身を比較することで、試料移動量を算出し、これをもとにスペクトルを重ね合わせる。例文帳に追加

After taking it in, by comparing the electron-ray energy loss spectrum themselves, the amount of sample movements is computed and the spectrum are folded in based on this. - 特許庁

高精度で高確度の電子エネルギー損失スペクトルを測定できる電子エネルギー損失スペクトル測定装置及び、それを備えたＴＥＭもしくはＳＴＥＭを提供すること。例文帳に追加

To provide accurate and reliable electron energy loss spectrum measuring device capable of measuring electron energy loss spectrum and THEM or STEM provided with the same. - 特許庁

走査透過型の電子顕微鏡に電子線エネルギー分析装置（エネルギーフィルタ）１１を備え、電子線エネルギー損失スペクトルや元素分布像を観察する。例文帳に追加

An electron beam energy analyzer (energy filter) 11 is installed to a scanning transmission type electron microscope to observe an electron beam energy loss spectrum and an element distribution image. - 特許庁

電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。例文帳に追加

A system for correcting electron energy-loss spectral images of the electron microscope provided with an electron spectrometer corrects spectra of electron energy-loss spectral images of a sample to be analyzed at each measuring position on the basis of differences between spectra at a reference position included in a reference spectral image and spectra except the reference position. - 特許庁

本発明の目的は、高Ｓ／Ｎで定量的な元素像や、エネルギー精度やエネルギー分解能の高い電子線エネルギー損失スペクトルを計測することに関する。例文帳に追加

To provide an electron microscope with which a quantitative element image with high S/N and an electron beam energy loss spectrum with high energy accuracy and high energy resolution can be measured. - 特許庁