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軸系アライメントの英語
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英訳・英語 shaft alignment
「軸系アライメント」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 25件
回転機械システムにおいて、軸系アライメントを自動的に調整する。例文帳に追加
To automatically adjust an shafting alignment in a rotary machine system. - 特許庁
船舶における軸系アライメントの評価方法および評価装置例文帳に追加
METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING SHAFT SYSTEM ALIGNMENT IN SHIP - 特許庁
第1のステージに保持された第1の部材の第1の面に対して斜めの光軸を有する観測光学系に、第1のアライメントマーク及び第2のアライメントマークからの散乱光が入射し、第1のアライメントマーク及び第2のアライメントマークが像面に結像する。例文帳に追加
Scattering lights from the first and second alignment marks enter an observation optical system having an optical axis oblique from the first surface of the first member held on the first stage to form the images of the first and second alignment marks on an image plane. - 特許庁
角度アライメントを行なう際に、拡大用光学系を動かさないようにすることによって、角度アライメント後における光軸の変動が実質的に発生しないようにする。例文帳に追加
To prevent substantially occurrence of fluctuation of an optical axis after angle alignment by preventing movement of an enlarging optical system when performing the angle alignment. - 特許庁
送光及び受光光学系の光軸のアライメント調整を自動的に且つ適切に行うことが可能なレーザレーダ装置及びアライメント自動調整方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a laser radar apparatus and an alignment automatic adjustment method, which automatically and properly perform alignment adjustment of the optical axis of light transmitting and light-receiving optical systems. - 特許庁
使用している基板支持手段で計測した検出系光軸方向位置を参照できた場合は、参照した検出系光軸方向位置にアライメントマークを置いて、アライメントマークの検出系光軸と垂直な方向の位置を計測する。例文帳に追加
When the detecting system optical axis directional position measured by employing substrate supporting means can be referred, to the alignment mark is positioned at the referred detecting system optical axis directional position to measure a position in the vertical direction of the detecting system optical axis of the alignment mark. - 特許庁
レンズ間のアライメント精度を向上させた光学レンズ系を提供し、前記レンズ間の光軸の問題となる大きさのずれを解消する。例文帳に追加
To provide an optical lens system improved in alignment precision between lenses, and to eliminate the significant deviation of an optical axis between the lenses. - 特許庁
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「軸系アライメント」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 25件
多管球X線CT装置における複数の光学系の互いのZ軸方向のアライメント調整を行うこと。例文帳に追加
To perform alignment adjustment in Z axis directions of each other of a plurality of optical systems in a multi-tube X-ray CT apparatus. - 特許庁
反射屈折系よりなる投影光学系PLの露光領域33の中心が、投影光学系PLの光軸に対して−Y方向側にずれているときに、投影光学系PLに対して−Y方向側の側面に、ウエハWのアライメント用のアライメントセンサ43を配置する。例文帳に追加
When the center of the exposure region 33 of the projection optical system PL composed of the catadioptric system is displaced on the -Y-direction side to the optical axis of the projection optical system PL, an alignment sensor 43 for aligning a wafer W is arranged on a side face on the -Y-direction side to the projection optical system PL. - 特許庁
対象物の表面にXY直交座標系を定義した時、対象物に形成されたアライメントマークを、対象物の表面の法線方向からY軸方向に傾いた光軸を有する観測装置で観測し、アライメントマークの像を受像面上に形成する。例文帳に追加
When an XY rectangular coordinate system is defined on the surface of an object, the alignment mark formed on the object is observed by an observation device having an optical axis inclined from a normal on the front surface of the object in a Y-axis direction, and the image of the alignment mark is formed on an image receiving surface. - 特許庁
複数の基板支持手段を用いる露光方法および露光装置において、アライメントマーク計測毎に検出系光軸方向位置を計測する等のスループット低下を防ぎつつ、アライメントマークを合焦位置で計測すること。例文帳に追加
To permit the measurement of an alignment mark at a focusing position while preventing the deterioration of a throughput such as the measurement of detecting system optical axis directional position at every alignment mark measurement or the like, in an exposure method and system employing a plurality of substrate supporting means. - 特許庁
受像面上に、X軸に対応する方向をu軸、u軸に直交する方向をv軸とするuv直交座標系を定義した時、アライメントマークの像の、v軸方向に関する位置を検出する。例文帳に追加
When a uv rectangular coordinate system which sets a u-axis defined in the direction corresponding to an X-axis and a v-axis defined in the direction perpendicular to the u-axis is defined, a position relating to the v-axis direction of the image of the alignment mark is detected. - 特許庁
制御装置は、エンコーダシステムの計測結果に基づいて、ウエハステージWSTのY軸方向及びθz方向の位置を管理しつつ、ウエハステージをX軸方向へ移動させ、複数のアライメント系をそれぞれ用いてウエハステージに存在する少なくとも1つのマークを検出することで、複数のアライメント系の特性測定を行なう。例文帳に追加
Based on the measurements of the encoder system, the controller moves the wafer stage in the X axis direction while managing the position of the wafer stage WST in the Y axis direction and the θz direction and measures the characteristics of the plurality of alignment systems by detecting at least one mark existing on the wafer stage using the plurality of alignment systems, respectively. - 特許庁
入力キー51により得られた被検眼の角膜曲率半径に応じてライトガイド駆動系53がアライメント視標投影光学系のライトガイドを光軸に沿って変位させる。例文帳に追加
According to the corneal curvature of the objective eye obtained by input key 51, a light driving system 53 moves the light guide of the alignment index projection optical system along light axis. - 特許庁
マイクロレンズの光軸を精度良くアライメントでき、かつ、後発的な光軸ずれにも対処することができるマイクロレンズ系、およびその調整方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a microlens system in which the optical axes of microlens can be precisely aligned and subsequent optical axis misalignment can be properly dealt with. - 特許庁
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