誤謬の発見の英語

提出された出願が何れかの要件を欠く場合，又は所管当局の職員が発見し得なかった誤謬を含んでいる場合，出願人は，配達証明付郵便又は交付送達によりその旨の通知を受け，15日以内にかかる瑕疵を是正するよう要求されるものとする。例文帳に追加

If the application as filed has omitted any of the required elements or if it contains errors that were not discovered by the competent official, the applicant shall be notified thereof by a communication with proof of receipt or by personal service and shall be required to remedy the defects within 15 days.発音を聞く  - 特許庁

６ 監査人は、監査の実施において不正又は誤謬を発見した場合には、経営者等に報告して適切な対応を求めるとともに、適宜、監査手続を追加して十分かつ適切な監査証拠を入手し、当該不正等が財務諸表に与える影響を評価しなければならない。例文帳に追加

(6) If the auditor identifies fraud or error during the course of the audit, he or she shall inform the appropriate level of management. Furthermore, the auditor shall obtain sufficient appropriate audit evidence through performance of additional audit procedures as necessary, and evaluate their effect to the financial statements.発音を聞く  - 金融庁

低コスト且つ誤謬の少ない欠陥探索並びにその型分類を自動的に行なう基板検査装置とその方法、特にマスク・レチクル等の基板に於いて欠陥粒子及び設計者の意図とは異なる欠陥図形を探索発見する自動検査と、それ等欠陥の型の自動分類とを行なう基板検査装置及びその自動検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection apparatus and a method for automatically detecting defects with little errors at low cost and classifying the defects, and in particular, to provide a substrate inspection apparatus and an automated inspection method for automated inspection to search and find defective particles and unintended defective figures by a designer on a substrate such as a mask reticle and for automated classification of these defects. - 特許庁

低コスト且つ誤謬の少ない欠陥探索並びにその型分類を自動的に行なう基板検査装置とその方法、特にマスク・レチクル等の基板に於いて欠陥粒子及び設計者の意図とは異なる欠陥図形を探索発見する自動検査と、それ等欠陥の型の自動分類とを行なう基板検査装置及びその自動検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for inexpensively performing defect inspection with fewer errors and for automatically classifying defects, especially to provide: an automated inspection for automatically inspecting and detecting detect particles and defect patterns different from patterns that a designer intends to be; an automated inspection apparatus for automatically classifying the defects; and to provide the automated inspection method for the same. - 特許庁