診断テスト結果の英語

この構成により、複数個のスキャンチェーンについてのテスト及び診断が可能にし、スキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないように処理することができる。例文帳に追加

According to this structure, the test and diagnosis for a plurality of scan chains can be performed, and the processing can be performed so that an unknown value have no influence on the test result. - 特許庁

又、スキャンチェーン再配置方法により、複数個のスキャンチェーンについてのテスト及び診断が可能にし、スキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないようにすることができる。例文帳に追加

The scan chain reconfiguration method enables the test and diagnosis for a plurality of scan chains, and can prevent an unknown value present in the scan chain from having influence on the test result. - 特許庁

従業員の希望行動特性と特性値算出部１０２による診断テスト結果に基づいて人材配置管理部１０３は職場の配置転換情報を従業員に提供する。例文帳に追加

A personnel arrangement control part 103 provides personnel relocation information on a workplace for the employee on the basis of a desired behavior characteristic of the employee and a diagnostic test result by a characteristic value calculating part 102. - 特許庁

スキャンベースＡＴＰＧテスト回路は、複数個のスキャンチェーン４０１，４０３，４０５，４０７についてのテスト及び診断が可能なように、これらを連結したスキャンチェーングループ４００、及びスキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないように処理するスキャンテストポイントグループ４１０を含む。例文帳に追加

The scan base ATPG test circuit comprises a scan chain group 400 comprising a plurality of scan chains 401, 403, 405 and 407 connected so that test and diagnosis for these scan chains can be performed; and a scan test point group 410 performing processing so that an unknown value present in the scan chain have no influence on a test result. - 特許庁

ウェーハ状態でのテスト時に、無線受信回路チップ２からチップ間配線を介して電力および試験開始信号の供給を受けて、ウェーハ１上の総ての不揮発性メモリチップ３が、自己診断試験回路によるテストを同時に実行し、それぞれの不揮発性メモリチップ３が、自身のメモリ領域にそのテストの結果を書き込む。例文帳に追加

During a test in a wafer state, the electric power and the test start signal are supplied from the wireless receiving circuit 2 through a wiring between chips, the all non-volatile memory chips 3 on the wafer 1 execute simultaneously the test by the self-diagnosis test circuit, respective non-volatile memory chips 3 write the test result in the self-memory region. - 特許庁

故障診断装置１２は、シミュレーションにより得た圧縮器２６の出力信号と、テスト装置１１により観測した圧縮器２６の出力信号とを比較し、その比較結果に応じて圧縮器２７の入力信号を設定してシミュレーションを実施する。例文帳に追加

The failure diagnosis device 12 compares an output signal of a compressor 26 obtained by the simulation and an output signal of the compressor 26 observed by a test device 11, and sets an input signal to a compressor 27 according to the comparison result to execute a simulation. - 特許庁

そして、ＣＰＵ１２の指令により組み込み自己検査を起動し、メモリ１１および論理回路群１３のテスト結果をメモリ検査用圧縮器１７および論理回路検査用圧縮器１５から読み出して、１チップマイクロコンピュータ１０内部において、あらかじめメモリ１１に記憶されている期待値とそれぞれ比較し結果診断を行う。例文帳に追加

Built-in self test is started by the command of CPU 12 and the test results of a memory 11 and a logic circuit group 13 are read from the memory inspection compressor 17 and the logic circuit inspection compressor 15, it is compared with an expectation value which is previously stored in the memory 11 and the result is diagnosed in the one chip microcomputer 10. - 特許庁

そして、ＣＰＵ１２の指令により組み込み自己検査を起動し、メモリ１１および論理回路群１３のテスト結果をメモリ検査用圧縮器１７および論理回路検査用圧縮器１５から読み出して、１チップマイクロコンピュータ１０内部において、あらかじめメモリ１１に記憶されている期待値とそれぞれ比較し結果診断を行う。例文帳に追加

The self-check of incorporation is started by a command of a CPU 12, and the test results of the memory 11 and a logic circuit group 13 are read from the memory checking compressor 17 and the logic circuit checking compressor 15 and compared respectively with expected values stored beforehand in the memory 11 to diagnose the result inside the one-chip microcomputer 10. - 特許庁