要素試験の英語

被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。例文帳に追加

A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part. - 特許庁

試験シナリオ管理手段１３では、試験シナリオにおけるシナリオ要素の先頭からの出現順序に基づいて試験シナリオを管理する。例文帳に追加

The test scenario management means 13 manages the test scenario, based on the order of the appearance of the scenario elements in the test scenario from the head. - 特許庁

試験装置の複数の構成要素のうち、試験に必要な構成要素の診断及び初期化を、短時間で、且つ漏れなく行う。例文帳に追加

To diagnose and initialize the constitutional components necessary for testing among a plurality of constitutional components of a testing machine in a short time and without exception. - 特許庁

ランセットと試験要素を有する分析装置を製造する方法例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING ANALYTICAL DEVICE WITH LANCET AND TEST ELEMENT - 特許庁

回路要素の寿命時間が所定の試験温度で電気的に測定される試験対象の回路装置において、大規模な恒温槽を必要とすることなく簡単な構造で回路要素を試験温度にできるようにする。例文帳に追加

To heat a circuit element up to a test temperature with a simple structure without requiring a large scale thermostat, in a circuit device, which is a test object, for measuring electrically a life time of the circuit element at the prescribed test temperature. - 特許庁

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。例文帳に追加

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test. - 特許庁

回路要素２０２を熱電効果により試験温度とする熱電素子２１０を設け、寿命試験を実行するときは熱電素子２１０の熱電効果で回路要素２０２を試験温度とする。例文帳に追加

A thermo-element 210 for heating the circuit element 202 up to the test temperature by thermoelectric effect is installed, and when a life test is executed, the circuit element 202 is heated up to the test temperature by thermoelectric effect of the thermo-element 210. - 特許庁

この試験モード登録回路においては、従来の試験モードを各要素に分けた試験機能がデコーダ回路６０に設定されたアドレス値として割当てられており、複数の試験モード登録回路を多重選択することにより各試験モードを実現する。例文帳に追加

In this test mode register circuit, test functions to which conventional test modes are divided into each element are allotted to the decoder circuit 60 as a set address value, and each test mode is realized by multi- selecting a plurality of test mode register circuits. - 特許庁