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窒化金属半導体の英語
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「窒化金属半導体」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 245件
窒化物半導体上に形成される電極であって、窒化物半導体上に形成される金属窒化物層と、金属窒化物層上に形成される第1金属層と、第1金属層上に形成される第2金属層とを備え、第1金属層は、金属窒化物層に含まれる金属と同一の金属元素を含む窒化物半導体用電極とおよびそれを含む窒化物半導体装置である。例文帳に追加
This electrode for a nitride semiconductor is an electrode formed on a nitride semiconductor and comprising a metal nitride layer formed on the nitride semiconductor, a first metal layer formed on the metal nitride layer and a second metal layer formed on the first metal layer in which the first metal layer contains an element of the same metal as a metal contained in the metal nitride layer; and this nitride semiconductor device contains this electrode for a nitride semiconductor. - 特許庁
III族金属窒化物薄膜の製造方法およびIII族金属窒化物系半導体素子例文帳に追加
METHOD FOR PRODUCING III GROUP METAL NITRIDE THIN FILM AND III GROUP METAL NITRIDE-BASED SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
金属塩化物ガスの発生装置および金属塩化物ガスの発生方法、並びに、ハイドライド気相成長装置、窒化物半導体ウエハ、窒化物半導体デバイス、窒化物半導体発光ダイオード用ウエハ、窒化物半導体自立基板の製造方法および窒化物半導体結晶例文帳に追加
METAL CHLORIDE GAS GENERATOR AND METAL CHLORIDE GAS GENERATION METHOD, AND HYDRIDE VAPOR PHASE EPITAXIAL GROWTH APPARATUS, NITRIDE SEMICONDUCTOR WAFER, NITRIDE SEMICONDUCTOR DEVICE, WAFER FOR NITRIDE SEMICONDUCTOR LIGHT-EMITTING DIODE, MANUFACTURING METHOD OF NITRIDE SEMICONDUCTOR SELF-SUPPORTING SUBSTRATE, AND NITRIDE SEMICONDUCTOR CRYSTAL - 特許庁
金属シリケート窒化膜の製造方法および半導体装置の製造方法例文帳に追加
METHOD OF MANUFACTURING METALLIC SILICATE NITRIDE FILM AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
窒化アルミニウム質焼結体、金属埋設品および半導体保持装置例文帳に追加
ALUMINUM NITRIDE-BASED SINTERED PRODUCT, METAL-EMBEDDED ARTICLE AND DEVICE FOR HOLDING SEMICONDUCTOR - 特許庁
金属窒化物層の製造方法、III族窒化物半導体およびその製造方法、III族窒化物半導体製造用基板例文帳に追加
METHOD FOR MANUFACTURING METAL NITRIDE LAYER, GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SUBSTRATE FOR MANUFACTURING GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR - 特許庁
窒化物半導体装置のオーム性電極を、GaN系半導体201上に第一の金属膜202、第二の金属膜203、第三の金属膜204、第四の金属膜205、第五の金属膜206が形成された構造とする。例文帳に追加
The ohmic electrode of the nitride semiconductor device is configured to have a first metal film 202, a second metal film 203, a third metal film 204, a fourth metal film 205 and a fifth metal film 206 formed on a GaN-based semiconductor 201. - 特許庁
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「窒化金属半導体」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 245件
金属窒化層からなる下地層の上に低温成長バッファ層を介在させることなくIII族窒化物系化合物半導体層が形成されている半導体素子であって、前記金属窒化物層が赤茶色の窒化チタンからなる。例文帳に追加
Disclosed is the semiconductor element which has a group III nitride-based compound semiconductor layer formed on a substrate layer made of a metal nitride layer without interposing a low-temperature grown buffer layer, and the metal nitride layer is made of rufous titanium nitride. - 特許庁
シリコンとの結晶性アルカリ土類金属窒化/酸化シリコン・インタフェースを有する半導体構造例文帳に追加
SEMICONDUCTOR STRUCTURE HAVING CRYSTALLINE ALKALINE EARTH METAL SILICON NITRIDE/OXIDE INTERFACE ON SILICON SUBSTRATE - 特許庁
III族金属窒化物結晶を用いた半導体発光素子およびこのIII族金属窒化物結晶の製法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT EMPLOYING GROUP III METAL NITRIDE CRYSTAL AND PROCESS FOR PRODUCING GROUP III METAL NITRIDE CRYSTAL - 特許庁
電流狭窄層(窒化物半導体層3)と接しており、かつ電流狭窄層(窒化物半導体層3)よりも基板1側に位置する窒化物半導体層2に遷移金属を導入する。例文帳に追加
Transition metal is introduced in a nitride semiconductor layer 2 which is in contact with a current constriction layer (nitride semiconductor layer 3) and positioned on a side of a substrate 1 as compared with the current constriction layer (nitride semiconductor layer 3). - 特許庁
この窒化ガリウム系半導体層の半極性面に電極が接合を成すので、金属/半導体接合は良好なオーミック特性を示す。例文帳に追加
Since the electrode forms the junction on the semipolar plane of the gallium nitride-based semiconductor layer, a metal/semiconductor junction exhibits good ohmic characteristics. - 特許庁
半導体(コレクタ層13)/金属(ベース層14)/半導体(エミッタ層15)から成る3層構造の各層は、窒化物で構成されている。例文帳に追加
Each layer of three-layer structure comprises a semiconductor (a collector layer 13)/a metal (a base layer 14)/the semiconductor (an emitter layer 15) is composed of a nitride. - 特許庁
本発明の半導体装置では、金属細線11の一部が、半導体チップ1表面のシリコン窒化膜3と当接している。例文帳に追加
In this semiconductor device, the thin metallic wires 11 are partially brought into contact with a silicon nitride film 3 formed on the surface of a semiconductor chip 1. - 特許庁
pFET材料としての金属酸窒化物を用いた半導体構造およびその製造方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR STRUCTURE USING METAL OXYNITRIDE ACTING AS pFET MATERIAL AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁
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