流れ試験の英語

荷重検出部９は、気体の流れによって試験対象物１に作用する荷重を検出する。例文帳に追加

A load detecting part 9 detects a load acting on the testing object 1 by the gas flow. - 特許庁

消費電流を測定する以外の試験でも被測定デバイスに流れる電流を監視する。例文帳に追加

To monitor a current flowing to a device to be measured, even in tests which are other than a test for measuring current consumption. - 特許庁

イ　風洞試験又は飛行試験のデータにより検証された二次元又は三次元の粘性流れのためのプログラムであって、エンジン内の流れをモデリングするためのもの例文帳に追加

(a) Programs for two dimensional or three dimensional viscous flow verified by the data of wind tunnel tests or flight tests and that model the flow inside engines発音を聞く  - 日本法令外国語訳データベースシステム

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。例文帳に追加

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state. - 特許庁

組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なうことができるとともに、試験用の電力変換器のインバータアームの半導体スイッチング素子を、該インバータアームを流れる短絡電流から保護し、該短絡電流消滅後は自動復帰することを可能とした電力変換装置の試験装置を提供することである。例文帳に追加

To provide a testing apparatus for power converter that can conduct noise test equivalent to combined noise test without using a power converter as a final product in a power converter, protect semiconductor switching elements for an inverter arm of a power converter for testing from short circuit current flowing in the inverter arm and automatically reset them after the short circuit current disappears. - 特許庁

ＪＩＳ Ｋ ７２１０「熱可塑性プラスチックの流れ試験方法」に示される試験方法における試験温度１９０℃、試験荷重２１．１８Ｎで溶融するとともに前記方法によるＭＦＲが０．１〜３で、かつ重合体の構成成分としてカルボキシル基（−ＣＯＯＨ）を有する構成成分を含む樹脂層Ｂと粘着剤層Ａとが積層されてなることを特徴とする半導体ウエハ固定用粘着テープ。例文帳に追加

This is an adhesive tape for fixing a semiconductor wafer that melts at a testing temperature of 190 °C and test load of 21.18 N in the testing method shown in "the flow testing method of thermoplastics" Japanese Industrial Standards K 7210, wherein MFR by the method is 0.1-3, and a resin layer B and adhesive layer A are laminated that includes a carboxyl group as a polymeric constituent. - 特許庁

試験時において基準セルトランジスタＴ２ｒのゲート電圧が設定され、試験用基準メモリセル３に流れる基準電流が調節される。例文帳に追加

When testing, a gate voltage of the reference cell transistor T2r is set, and a reference current made to flow through the reference memory cell 3 for testing is adjusted. - 特許庁

ＡＴＭ区間とＳＴＭ区間が含まれる伝送路において、ユーザデータが流れているインサービス中であっても、ユーザデータの瞬断を最小限にして導通試験を行うことができる導通試験システムを提供する。例文帳に追加

To obtain a continuity test system which can conduct a continuity test while minimizing hit of user data even in service wherein the user data flow on a transmission line including an ATM section and an STM section. - 特許庁