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検査てこの英語
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英訳・英語 easing lever
「検査てこ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 1462件
また、型板3の検査に代えて、検査用基板を形成してこれを検査する。例文帳に追加
Instead of inspection of the template 3, a substrate for inspection is formed and inspected. - 特許庁
なお、検査時において、固定レベルを検査に適した任意の検査用電圧に設定可能としてもよい。例文帳に追加
During the inspection, the fixed level may be set to an arbitrary voltage for inspection suitable to the inspection. - 特許庁
被検査半導体集積回路(DUT)の検査時間を短縮して高速で高品質な検査を行う。例文帳に追加
To perform a high-speed, high-quality test by reducing inspection time for semiconductor integrated circuits under inspection (DUT). - 特許庁
被検査体の検査装置において、光学撮像部は、被検査体の光学画像を撮像する。例文帳に追加
In this inspection device for object of inspection, an optical imaging part images an optical image of the object of inspection. - 特許庁
半導体デバイスの組み立て工程検査装置及び検査方法例文帳に追加
INSPECTING EQUIPMENT FOR ASSEMBLING PROCESS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS INSPECTING METHOD - 特許庁
大型の被検査基板であっても、検査精度を確保して効率良く検査することが可能なマクロ検査装置を提供する。例文帳に追加
To provide a macro inspection device capable of efficiently inspecting even a large substrate to be inspected while securing the inspection accuracy. - 特許庁
検査対象物の形状によらずに検査領域を設定でき、検査対象物の外観検査を極めて高精度に行うことが可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a visual inspection method and a visual inspection device capable of setting an inspection domain regardless of the shape of an inspection object, and performing visual inspection of the inspection object with extremely high accuracy. - 特許庁
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「検査てこ」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 1462件
外観検査装置1は、試料23の表面を撮像して得た撮像画像からその外観を検査する外観検査手段2に加えて、この外観検査手段2が試料23の外観検査を行う前に試料23について所定の前検査を行う前検査手段3を備えて構成される。例文帳に追加
The visual inspection device 1 is equipped with a pre-inspection means 3 for performing the pre-inspection related to a sample 23 before the visual inspection of the sample is performed by a visual inspection means 2 in addition to the visual inspection means 2 for inspecting the appearance of the sample 23 from the photographed image obtained by photographing the surface of the sample 23. - 特許庁
検査対象物がx軸方向及びy軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルのような検査物であっても、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となるタッチパネル検査装置の提供。例文帳に追加
To provide a touch panel inspection apparatus, capable of shortening an inspection time and conducting an effective inspection for even an inspection object, such as, touch panel which has wiring arranged in the form of a matrix in an x-axis direction and a y-axis direction, by conducting inspection in a noncontact inspection fashion. - 特許庁
検査装置において、光源の変動が生じたり、検査対象が変っても、検査体に対して常に安定して高精度の検査が行える検査方法とその装置を提供すること。例文帳に追加
To provide an inspection method and its device capable of always stably and accurately inspecting an inspection object even with a variation in a light source and change in the inspection object. - 特許庁
そしてこの本検査の前に、インクジェットヘッドの一部のノズルの吐出状態を検査する予備検査が実行される(S1003)。例文帳に追加
Before performing the main inspection, a preliminary inspection for inspecting a part of the nozzles of the inkjet head is performed (S1003). - 特許庁
さらに、短冊工程にて、この短冊状の液晶表示モジュールに検査用配線を設け、検査信号を印加して表示検査を行う。例文帳に追加
Further, in the strip process, wiring for inspection is disposed in the strip-like liquid crystal display module, an inspection signal is applied, and display inspection is performed. - 特許庁
従来の検査装置及び検査方法に比べて、高速且つ高精度に光導波路の導通検査を行うことができる光導波路の検査システム及び検査方法を提供する。例文帳に追加
To provide an inspection system and an inspection method of optical waveguide capable of implementing continuity inspection of optical waveguide at higher speed and higher accuracy than conventional inspection devices and inspection methods. - 特許庁
x軸方向及びy軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルを、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となる検査装置の提供。例文帳に追加
To provide an inspection device that allows efficient inspection to be performed in shorter inspection time by inspecting without contact a touch panel having wirings arranged in matrix in an x-axis direction and a y-axis direction. - 特許庁
基板に発生した圧痕を検査するにおいて、圧痕検査が必要な検査領域の設定が迅速且つ正確であることは勿論、圧痕の異常有無も迅速で且つ正確に検査することができる圧痕検査装置及び方法を提供する。例文帳に追加
To provide an apparatus and method for indentation inspection to rapidly and accurately set an inspection region requiring indentation inspection in inspecting an indentation occurring in a substrate and rapidly and accurately inspecting the existence of the abnormality of the indentation. - 特許庁
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