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Weblio専門用語対訳辞書での「微動測定」の英訳

微動測定

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「微動測定」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 30



例文

微動ステージ112の変位測定用の第2レーザ測長器122は微動ステージ112に配置される。例文帳に追加

A second laser length measuring machine 122 for measuring displacement of a fine movement stage 112 is arranged on the fine movement stage 112. - 特許庁

測定処理部13は、測定対象物を、撮像エリアを微動させながら撮影した複数の第1画像を取得する。例文帳に追加

A measuring processing part 13 acquires a plurality of first images photographed, while making a photographing area undergo micromotion for the measuring object. - 特許庁

この測定方法は、探針25で試料12を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるXY微動機構24と試料を粗動させるXYステージ51を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。例文帳に追加

This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly. - 特許庁

このとき、測定光を被測定光ファイバ14の入射端面14aに入射する位置を、微動台13により調整することにより、被測定光ファイバ14の励振条件を変えることができる。例文帳に追加

At this time, the position where the measuring light enters the incident end face 14a of the optical fiber 14 to be measured is regulated by a finely adjusting base 13, and thereby, the exciting conditions of the optical fiber 14 to be measured can be changed. - 特許庁

微細形状測定装置1に触針12を微小および大変位させる微動機構50および粗動機構60を設けた。例文帳に追加

This minute shape measuring instrument 1 is provided with a fine movement mechanism 50 and a coarse movement mechanism 60 for giving the stylus 12 fine displacement and large displacement, respectively. - 特許庁

そして、制御装置は、操作部材に一方の自由度に関する入力が行われると測定部16を微動させ、操作部材に他方の自由度に関する入力が行われると測定部16を粗動させる。例文帳に追加

The controller finely moves the measuring part 16 when the input of one of the freedom degrees is input into the operation member, and roughly moves the measuring part 16 when the input of the other freedom degree is input into the operation member. - 特許庁

例文

上記の構成で、探針で試料を測定するために探針で前記試料の表面を走査するとき、表面方向微動機構と、移動機構のうちいずれか一方が使用され、これにより試料の表面特性が測定される。例文帳に追加

According to this constitution, when the surface of the sample is to be scanned by a probe for measuring the sample with the probe, either the surface-direction fine positioning mechanism or the moving mechanism will be used, and thereby the surface characteristics of the sample are measured. - 特許庁

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「微動測定」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 30



例文

被検眼に対して測定部を所定の位置にアライメントして検査を行う眼科装置において、検査者の意図通りに測定部を微動又は粗動させることを可能とする。例文帳に追加

To finely or roughly move a measuring part as intended by an examiner, in an ophthalmologic device aligning the measuring part in a prescribed position with respect to an eye to be examined, to conduct an examination. - 特許庁

これによって、可動体2の直線運動に負荷がかかった場合に、その直線運動が停止し、可動体2の微動が抑えられ、測定機においては測定安定性が向上する。例文帳に追加

The linear motion is thereby stopped to restrain the movable body from being moved slightly when the load is applied to the linear motion of the movable body 2, and measurement stability is enhanced thereby in a measuring machine. - 特許庁

従って、微動手段3,7をフィードバック制御することで、測定力を調節できるので、追従性を確保して、測定の高応答化、高精度化を図ることができる。例文帳に追加

Hereby, since a measuring force can be adjusted by performing feedback control of the micro-motion means 3, 7, the followability can be secured, and the high response and high accuracy of the measurement can be realized. - 特許庁

被検眼に対して測定部を所定の位置にアライメントして検査を行う眼科装置において、検査者の意図通りに測定部を微動又は粗動させることを可能とする。例文帳に追加

To finely move or roughly move a measurement section as being intended by an examiner in ophthalmologic equipment aligning the measurement section to a subject's eye and examining it. - 特許庁

そして、制御装置は、操作部材に一方の自由度に関する入力が行われると測定部16を微動させ、操作部材に他方の自由度に関する入力が行われると測定部16を粗動させる。例文帳に追加

The control device finely moves the measurement section 16 when an input of one freedom degree is executed in the operation member, and roughly moves the measurement section 16 when an input of another freedom degree is executed in the operation member. - 特許庁

凹凸形状測定時に探針接近位置と接近動作終了時のZ軸微動素子のストロークを適切に調整し、ストロークを有効に利用して測定できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope and its measuring method capable of properly adjusting an explorer approaching position, when measuring a ridged/grooved shape and stroke of a Z-axis fine-movement element when an approaching action is finished, and measuring effectively utilizing the stroke. - 特許庁

建物内のNS方向に換振器Aを、EW方向に換振器Bを、地盤のNS方向に換振器Cを、EW方向に換振器Dを、それぞれセットし、各方向の常時微動測定し、測定値を増幅器で増幅して記録器を介してオシロスコープで測定する。例文帳に追加

A geophone A, a geophone B, a geophone C, and a geophone D are set in an NS direction, an EW direction, the NS direction, and the EV direction of the building respectively and measure the micro-tremor in the respective directions, and the measured values are amplified by an amplifier and measured by an oscilloscope via a recorder. - 特許庁

例文

この焦点合せ方法は、探針25で試料12を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構24と、探針と試料の間隔を探針接近機構11と、光学顕微鏡22と、その焦点合せ用駆動機構21を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。例文帳に追加

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21. - 特許庁

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