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回折量計の英語
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英訳・英語 halometer
「回折量計」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
回折格子反射波長計測方法及びその装置並びに物理量計測方法及びその装置例文帳に追加
DIFFRACTION GRATING REFLECTED WAVELENGTH MEASURING METHOD AND DEVICE, AND PHYSICAL QUANTITY MEASURING METHOD AND DEVICE - 特許庁
回折格子で反射される光の波長、物理量を高精度に計測する。例文帳に追加
To measure the wavelength and physical quantity of light reflected by a diffraction grating with high accuracy. - 特許庁
計算量が増えるのであるが格子から外れた不規則性ある回折パターンを生成することができる。例文帳に追加
An off-grid irregular diffraction pattern can be formed although calculation quantity is increased. - 特許庁
Tiを2.0〜4.0質量%含有する銅合金において、他の不純物元素が合計で0.01質量%以下であり、X線回折パターン上に見られるβ相(TiCu_3)の回折ピークが最大のものでも(111)の回折ピークの1/10未満であることを特徴とする銅合金。例文帳に追加
The copper alloy containing 2.0 to 4.0mass% Ti is characterized in that other impurity elements are ≤0.01mass% in total and that the diffraction peak of a β phase (TiCu_3) observed on an X-ray diffraction pattern is <1/10 of the diffraction peak of (111) if largest. - 特許庁
半導体プロセスで製造されるフレネル・レンズ型回折光学素子をCADで設計する場合の設計データ量を低減化する。例文帳に追加
To reduce the amount of design data when a Fresnel lens type diffractive optical element manufactured through a semiconductor process is designed by CAD. - 特許庁
ウエハ2からの散乱光や回折光の光量が、計測部8,9の受光センサ51により計測される。例文帳に追加
The amount of the scattered light and diffracted light from the wafer 2 is measured with a photo-sensor 51 of the measuring sections 8, 9. - 特許庁
計算機発生ホログラム(CGH)を回折格子の原板として用い、高効率な回折格子を大量に複製することができる複製方法を提供する。例文帳に追加
To provide a duplication method of diffraction grating by which a high-efficiency diffraction grating can be duplicated in a large amount by using computer generated hologram (CGH) as an original plate of the diffraction gratings. - 特許庁
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「回折量計」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
異なる二つの波長の光線に対応した回折格子体において、最適な反射防止膜の設計を行い、光量損失を低減すると共に、回折格子体の製造歩留まりを向上させることを目的とする。例文帳に追加
To reduce the loss of light quantity by performing the design of the optimum reflection preventing film, and to enhance the manufacturing yield of a diffraction grating body in the diffraction grating body corresponding to two light rays different in wavelength. - 特許庁
設計次数の回折効率の劣化を抑制しつつ、格子垂直面から発生した光、及び多重反射光の像面(評価面)に到達する光量が抑制された回折光学素子を得ること。例文帳に追加
To provide a diffractive optical element which suppresses light generated from grating vertical surfaces and a light quantity of multiple reflection light reaching an image surface (evaluation surface) while suppressing deterioration in diffraction efficiency of design order. - 特許庁
反射型超音波流量計において、超音波の回折成分が受信側のトランスデューサに入射することを防止する。例文帳に追加
To provide a reflection type ultrasonic flowmeter which prevents the diffraction component of ultrasonic waves from being incident on a transducer on the reception side. - 特許庁
光源1からの光が入射される光ファイバ3に一以上のブラッグ回折格子(FBG)5が形成され、各ブラッグ回折格子5からの反射光の波長を波長検出器9により検出して各ブラッグ回折格子1の位置における温度、歪み等の物理量を測定するようにした波長計測装置に関する。例文帳に追加
In a wavelength measuring device, one or more Bragg diffraction gratings (FBG) 5 are formed on an optical fiber 3 which emits light from a light source 1, the wavelength of reflection light from each Bragg diffraction grating 5 is detected by a wavelength detector 9 to measure a physical quantity such as temperature and strain at the position of each Bragg diffraction grating 5. - 特許庁
高分解能中性子回折装置を用いた中性子回折法及び超伝導量子干渉計を用いた磁気測定法を組み合わせることにより、電極材料の構造中のリチウムや酸素に関する精度の良い情報を得ることからなる。例文帳に追加
A neutron diffracting method using a high resolution neutron diffracting device and a magnetic measuring method using a super-conducting quantum interferometer are combined to obtain the accurate information related to lithium and oxygen in the structure of the electrode material. - 特許庁
搬送中のワーク10を透過照明で画像入力し、該画像からワーク内の対象12の計測を行なう際に、予め求めておいて実寸と計測値の差と背景の明るさの検量線36で計測値を補正して、光の回折による計測値への影響を軽減する。例文帳に追加
When the work 10 under transfer is subjected to image input by transmission lighting and a target 12 in the work is measured from the image, a measurement value is corrected by the difference between actual dimensions that are obtained in advance and the measurement value and a calibration curve 36 in the brightness of the background, thus reducing influence to the measurement value by the diffraction of light. - 特許庁
特にラインセンサの正規化出力とフレネル回折パターンの近似式との光量の差の絶対値の総和を相関値として計算する。例文帳に追加
Especially, the sum total of the absolute value of the difference of the light quantity between the normalized output from the line sensor and the approximate expression of the Fresnel diffraction pattern is calculated as the correlation value. - 特許庁
本発明の鋼線材は、組織中のフェライトおよびパーライトの合計量を面積率で80%以上とし、X線回折で測定するα(211)ピークの半価幅を0.200度以下とする。例文帳に追加
As to this steel wire rod, the total content of ferrite and pearlite in the structure is controlled to ≥80% by area ratio, and the half value width of the α(211) peak measured by X-ray diffraction is controlled to ≤0.200 degrees. - 特許庁
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halometer
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