合わせマークの英語

露光方法および位置合わせマーク例文帳に追加

EXPOSURE METHOD AND POSITION ALIGNMENT MARK - 特許庁

見当合わせマークおよび刷版例文帳に追加

REGISTERING MARK AND PRINTING PLATE - 特許庁

位置合わせマークの形成方法例文帳に追加

METHOD OF FORMING ALIGNMENT MARK - 特許庁

合わせマーク部は、マーク部半導体層及びマーク部絶縁層を含む。例文帳に追加

The alignment mark part includes a mark part semiconductor layer and a mark part insulator layer. - 特許庁

重ね合わせ精度測定マークは、基準マーク１０と合わせマーク２０とからなる。例文帳に追加

A registration precision measurement mark is constituted of a reference mark 10 and an overlap mark 20. - 特許庁

それにより、本体の位置合わせマークがウェブ４５の位置合わせマークと位置合わせされる。例文帳に追加

By this structure, the positioning mark of the main body is positioned with the positioning mark of the web 45. - 特許庁

重ね合わせマーク、重ね合わせマークの設計方法および重ね合わせ測定の方法例文帳に追加

OVERLAY MARK, METHOD OF OVERLAY MARK DESIGN, AND METHOD OF OVERLAY MEASUREMENT - 特許庁

アラインメントマーク、合わせマーク及び半導体装置の製造方法例文帳に追加

ALIGNMENT MARK, REGISTRATION MARK, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD - 特許庁