半確徴の英語

半導体装置５を高温雰囲気内で通電し所定時間保持するバーンイン試験のために絶縁基板１上に多数のソケット３を配列した試験用基板４へ半導体装置５を供給する際に上記ソケット３に装着された半導体装置５に通電し通電異常が確認された半導体装置５を試験用基板４から取り外すようにしたことを特徴とするバーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法。例文帳に追加

At that time, conduction is made to the semiconductor device 5 being fitted to the socket 3, the semiconductor device 5 where the abnormality of the conduction has been confirmed is removed from the substrate 4 for testing. - 特許庁

セラミック基板の内部に、導電体と外部端子との電気的接続を確保するためのスルーホールが形成された半導体製造・検査装置用セラミック基板において、上記スルーホールの少なくとも一部が導電性セラミックからなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。例文帳に追加

In a ceramic substrate for semiconductor manufacturing/ inspecting device in which through-holes are formed for securing electrical connection between a conductor and external terminals, at least parts of the through-holes are made of a conductive ceramic. - 特許庁

セラミック基板の内部に、導電体と外部端子との電気的接続を確保するためのスルーホールが形成された半導体製造・検査装置用セラミック基板において、上記スルーホールの少なくとも一部が導電性セラミックからなることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。例文帳に追加

In the ceramic substrate for the semiconductor manufacturing/ inspecting device having a through-hole for securing the electric connection of a conductor and the external terminal formed inside the ceramic substrate, at least a part of the through-hole is composed of conductive ceramic. - 特許庁

半導体集積回路の設計方法であって、前記集積回路のレイアウト設計用の設計データを保持し、前記集積回路を構成する配線のスイッチング確率の情報を保持し、前記配線の配置を、前記設計データと前記スイッチング確率とに基づいて決定することを特徴とする設計方法。例文帳に追加

In the design method of the semiconductor integrated circuit, design data for layout design of the integrated circuit are held, information of the switching probability of wiring constituting the integrated circuit is held, and the arrangement of the wiring is determined on the basis of the design data and the switching probability. - 特許庁

表面に絶縁膜を有する半導体ウェーハの一方の表面の全面にイオンを注入する際のイオン注入状況の確認方法であって、イオン注入の開始から終了までの間を通して、前記注入イオンのイオンビームが前記半導体ウェーハの表面上に照射される際に生ずる発光を直接的または間接的に観察することによって、前記半導体ウェーハへのイオン注入が前記全面に行われているかどうかを確認することを特徴とするイオン注入状況の確認方法。例文帳に追加

There is provided a method for confirming an ion implantation status upon implanting ions into one entire surface of a semiconductor wafer having an insulating film thereon, in which it is confirmed whether the ion implantation is conducted into the entire surface of the semiconductor wafer by observing directly or indirectly light emitted when the surface of the semiconductor wafer is irradiated with an ion beam of the implanted ions from the start of the ion implantation through the end thereof. - 特許庁

透明もしくは半透明な板（１）に、統計学での分野で出てくる主要な確率分布である、標準正規分布（２）、分散の大きい正規分布（３）、分散の小さい正規分布（４）、ｔ分布（５）、Ｆ分布（６）、カイ２乗分布（７）の形の孔を設けたことを特徴とする。例文帳に追加

A transparent or translucent plate 1 has holes of the forms of a standard normal distribution 2, normal distribution 3 having a large dispersion, normal distribution 4 having a small dispersion, t distribution 5, F distribution 6 and square factorial distribution 7 of essential probability distributions appearing in a field of statistics. - 特許庁

画像を順次横方向に走査し、画素を２値化して走査（縦または横）方向に連続する線分の長さおよび個数を計測して線分長のヒストグラムを作成し、このヒストグラムおよび計測する画像パターンの線分長の確率分布から、半径などの特徴量を算出するようにした。例文帳に追加

An image is scanned sequentially in a horizontal direction, then a histogram having a line segment length by measuring each length and the number of line segments which are continuous in a scan (vertical or horizontal) direction is produced after each pixel is binarized, then feature amount such as radius etc. is calculated from the histogram and probability distribution of each line segment length of each image pattern to be measured. - 特許庁

本発明は、ウエファ上にアライメントターゲットチップを多数設けることにより、ダイシング後に位置ずれが生じても位置補正してマッピングデータを作りなおすもので、特性データと半導体チップを正確に対応させることができるので微小チップの場合でもアドレス方式により必要な特性ランクの選別組み立てが行えることに特徴を有する。例文帳に追加

Since characteristic data and the semiconductor chip can be made to correspond exactly, even in the case of fine chip, the required characteristic rank can be selected and assembled by the address system. - 特許庁