加圧検査法の英語

検査工程の増加や検査コストの増加を招くことなく、検査精度を向上させた半導体圧力センサおよびその接合面検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor pressure sensor where inspection accuracy is improved without causing increase in inspection processes and costs, and its junction surface inspection method. - 特許庁

給湯装置の水漏れ検査方法、配管内加圧方法および水漏れ検査治具、ならびに圧力センサの判別方法例文帳に追加

METHOD OF INSPECTING WATER LEAKAGE IN WARM WATER SUPPLY, METHOD OF PRESSURIZING IN PIPING, WATER LEAKAGE INSPECTING JIG AND METHOD OF IDENTIFYING PRESSURE SENSOR - 特許庁

材料の表層欠陥を非破壊的に検査する浸透探傷検査において、被検査物の微細な表層欠陥内にも浸透液を浸透させ、表層欠陥の検出を容易にする加圧式浸透探傷検査方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a pressurizing and infiltrating method and a pressurizing and infiltrating apparatus for scanning and inspecting flaws which infiltrate a penetrant into fine surface layer defects of an object to be inspected and facilitate detection of the surface layer defects in an infiltrating flaw scan inspection for nondestructively inspecting the surface layer defects of a material. - 特許庁

半導体ウェハの検査方法は、 半導体チップとなるチップ領域が形成されたウェハを準備する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第１プローブ検査と、 平坦面を有する加圧部材によって、前記ウェハの電極を押圧する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第２プローブ検査と、を含む。例文帳に追加

The inspection method of the semiconductor wafer includes a process of preparing the wafer with a chip region formed which will become a semiconductor chip, a first probe inspection to inspect the wafer by probing, a process of pressing an electrode of the wafer by a pressurization member having a flat plane, and a second probe inspection to inspect the wafer by probing. - 特許庁

半導体ウェハの検査方法は、 半導体チップとなるチップ領域が形成されたウェハを準備する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第１プローブ検査と、 平坦面を有する加圧部材によって、前記ウェハの電極を押圧する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第２プローブ検査と、を含む。例文帳に追加

The inspection method of a semiconductor wafer includes a process of preparing a wafer formed with a chip region which will become a semiconductor chip, a first probe test for inspecting the wafer by probing, a process of pressing the electrode of the wafer by a pressurization member having a flat plane, and a second probe test for inspecting the wafer by probing. - 特許庁

また、検査品が冷媒通路を有する金型の場合に、その冷媒通路内に所定圧まで加圧空気を注入し、冷媒通路内の空気圧の変化を圧力センサによって検知して、冷媒通路の液体洩れを検査する方法。例文帳に追加

When the inspection object is a metal mold having a refrigerant passage, pressurized air is injected to the refrigerant passage, up to a predetermined pressure, and changes in the air pressure in the refrigerant passage are detected by the pressure sensor to inspect for liquid leakage of the refrigerant passage. - 特許庁

被検査用のゴム成形体１の表面に加圧子２を押し当てて２００ｋＰａ以上の面圧を負荷し、該面圧負荷前後におけるゴム成形体表面の変色の有無又は変色の程度を検査するゴム製品の変色性検査方法である。例文帳に追加

In the color changing property inspection method of the rubber product, a pressure element 2 is pressed on the surface of the rubber molding 1 to be inspected to apply contact pressure of 200 kPa or more, to inspect the presence or absence of color changing or degree of color changing on the surface of the rubber molding before and after applying the contact pressure. - 特許庁

圧縮空気で加圧する方法により防水コネクタのダミー栓挿入忘れ検査を行なった場合に、その検査のために防水コネクタのダミー栓が抜け易くなることを防止する。例文帳に追加

To prevent a waterproof connector dummy plug from unintentionary pulled out after a dummy plug insertion negligence inspection of the waterproof connector by a method of pressurizing by compressed air. - 特許庁