前置標準形の英語

前記検査領域内の画像輝度の標準偏差から圧痕レベルの検出を行い、二値化画像データによる白部分の面積と形状から圧痕数を算出し、パネル電極に形成した圧痕の強弱、数、位置ずれ、異物混入等を判定する。例文帳に追加

An impression level is detected from the standard deviation of image brightness inside the inspection area, and the number of impressions is computed from the area and shape of a white section, produced by binary image data to determine the strength, number, displacement or foreign material mixing of the impression formed on the panel electrode. - 特許庁

車両４１に取り付けられたカメラ４３により撮影された車両前方画像データ２１を元に、走行車線を形成する右および左の白線（４５、４７）の中点ＬＣを車両の相対位置として算出し、この相対位置の所定時間内の標準偏差を蛇行率として算出する。例文帳に追加

The device calculates middle points LC of right and left white lines (45, 47) forming a traveling lane as relative positions of a vehicle 41, on the basis of image data 21 of the front of the vehicle photographed by a camera 43 attached to the vehicle 41, and also calculates the standard deviation of the relative position within a prescribed time as the meandering rate. - 特許庁

本発明に係るバッテリアセンブリは、キャッププレートを備えたベアセルと、前記ベアセルに対する保護回路が形成され、標準化された形状を有する保護回路モジュールと、前記保護回路モジュールが安着する安着部を形成し、前記ベアセルの上部に位置して前記保護回路モジュールと前記ベアセルを電気的に連結させるアダプタ部材とを含む。例文帳に追加

The battery assembly includes the bare cell equipped with a cap plate; the protection circuit module formed with a protection circuit with respect to the bare cell and having a standardized shape; and an adaptor member which forms a resting portion where the protection circuit module rests and which is located on top of the bare cell to electrically connect the protection circuit module to the bare cell. - 特許庁

標準リムに装着する前の状態で、サイドウォール部２に延在するカーカス層４の断面形状が、タイヤ最大幅位置Ｐｍよりビード部２側のサイドウォール部分２ｂで直線状または外側に凹となる曲線状になっている。例文帳に追加

In a state before the tire is attached to the standard rim, the cross sectional shape of the carcass layer 4 extending to the sidewall part 2 becomes straight at the sidewall part 2b to the bead part 2 side from the tire maximum width position Pm or curves outward in a concave shape. - 特許庁

評価装置は光源４と、赤外線光学系評価用の標準パターンが形成されたテストパターン５と、光源光が照射された前記テストパターンのパターン像を結像する赤外線レンズ１０と、結像されたパターン像を検知する画像センサ６とを有する。例文帳に追加

The evaluating apparatus includes a light source 4, a test pattern 5 having a standard pattern formed for evaluating an infrared optical system, the infrared lens 10 for forming a pattern image of the test pattern with light irradiated from the light source, and an image sensor 6 for detecting the formed pattern image. - 特許庁

互いに螺合するめねじ２３とおねじ２５からなるねじであって、前記めねじ２３は、その標準有効径６の位置におけるねじ山２７の幅Ｐ３を、ねじ溝２９の幅Ｐ４より大きく形成して有効径を変位させる。例文帳に追加

In a screw comprising a female screw 23 and a male screw 25 which are screwed with each other, the width P3 of a thread 27 at the position of the standard effective diameter 6 of the female screw 23 is set to be larger than the width P4 of a screw groove 29 to displace the effective diameter thereof. - 特許庁

電子ビームを半導体デバイスに照射してそのときに半導体デバイスに生じる電流を測定する半導体デバイス検査装置において、前記測定された電流の波形をあらかじめ設定された標準波形と比較する手段と、前記比較する手段の比較結果から半導体デバイス検査装置の異常か半導体デバイスの検査領域の異常かを識別する手段とを有することを特徴とする。例文帳に追加

A semiconductor device inspection apparatus for measuring a current being induced in a semiconductor device by irradiating it with an electron beam comprises a means for comparing the waveform of a measured current with a preset standard waveform, and a means for discriminating a fault in the semiconductor device inspection apparatus from a fault in the inspection area of a semiconductor device based on the comparison results of the comparing means. - 特許庁

ウエハ一括コンタクトボードの一部を構成する多層配線基板１０において、基板の周辺領域に形成される外周パッド５１をブロック化するとともに標準化し、かつ、前記ブロック化された外周パッドに隣接して、前記ブロック化された外周パッドにコネクタを接続する際に案内及び位置合わせの役割を果たすガイド部（ガイド穴５３）を設けた構造とする。例文帳に追加

In a multilayer interconnection board 10 constituting a part of a wafer collective contact board, an outer peripheral pad 51 formed in the peripheral region of the board is made into a block for standardization, while a guide part (guide hole 53) for guiding and alignment when a connector is connected to the block outer peripheral pad 51, is provided adjacent to it. - 特許庁