元素マッピングの英語

透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法例文帳に追加

REFERENCE SAMPLE FOR ELEMENT MAPPING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT MAPPING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

元素マッピング時の各測定点におけるＳＮ比のばらつきを低減する。例文帳に追加

To reduce the dispersion of SN ratios at each measuring point in the element mapping. - 特許庁

多層ナノ薄膜のＳＥＭ ＥＤＳ、ＥＥＬＳマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。例文帳に追加

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample. - 特許庁

元素マッピング像などの分布画面の数の制限やサイズが小さくなることなく、元素マッピング像の元素分布状態の差異の見栄えが大いに向上させ、元素の分布状態を正しく把握できるようにする。例文帳に追加

To improve an element mapping image in appearance of a difference between element distribution states without restricting the number of distribution screens of the element mapping image etc. and without reducing their sizes, in order to grasp an element distribution state of an element correctly. - 特許庁

Ｃ．Ｖ．値は、電子線マイクロアナライザーによる元素マッピングから算出される。例文帳に追加

The C.V. value is calculated from element mapping by an electron beam microanalyzer. - 特許庁

化合物半導体ウェハに含まれる特定元素の組成比のマッピング装置例文帳に追加

DEVICE FOR MAPPING COMPOSITION RATIO OF SPECIFIED ELEMENT CONTAINED IN COMPOUND SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

元素マッピングは、厚膜抵抗体表面の２００μｍ×２００μｍの領域について行う。例文帳に追加

Element mapping is performed in the region of 200 μm×200 μm on the surface of a thick film resistor. - 特許庁

Ｘ線マッピングにおいて、試料上の各走査位置に含まれる元素の同定を正確に行い、その同定元素の濃度を正確に得る。例文帳に追加

To accurately identify the element contained at each scanning position on a sample in X-ray mapping to accurately obtain the concn. of the identified element. - 特許庁