偏光法の英語

偏光子の少なくとも一方の面に接着層を介して設けられる偏光板用透明保護フイルムであって、偏光板用透明保護フイルムの偏光子と接着する面のＸ線光電子分光法による構成元素比率が、（酸素の比率／炭素の比率）＞０．７５であることを特徴とする偏光板用透明保護フイルム。例文帳に追加

The transparent protective film for the polarizing plate is disposed on at least one surface of a polarizer via an adhesive layer and is characterized by having >0.75 ratio of constitutive elements (oxygen ratio/carbon ratio) on a surface of the transparent protective film for the polarizing plate adhering to the polarizer measured by X-ray photoelectron spectroscopy. - 特許庁

配向膜材料の基材に対するチルト角を偏光赤外多角入射分解分光法により測定する方法を提供する。例文帳に追加

The method is provided to measure a tilt angle of an alignment layer material with respect to a substrate by polarized infrared multiple-angle incidence resolution spectrometry. - 特許庁

波長１０６４ｎｍのＹＡＧレーザーを励起光として用いた偏光ラマン分光法により得られる散乱スペクトル強度が特定の関係式を満たし、かつ厚さが５μｍ以上２１μｍ以下である偏光膜。例文帳に追加

The polarizing film is one in which a specific formula is met by scattered spectral strength obtained from a polarizing Raman spectroscopic method using wavelength 1064 nm of YAG laser as stimulating light and whose thickness is more than 5 μm and less than 21 μm. - 特許庁

本発明に係る個人認証用媒体１は、被写体を偏角分光測光法で測定した際の測光データが書き込まれた情報源として、バーコード５やＩＣチップ６を備える。例文帳に追加

The individual authentication medium 1 is provided with a barcode 5 and an IC chip 6 as information sources in which photometric data are written when an object is measured by a deflection angle spectrophotometric method. - 特許庁

構造から回折したビームの位相差および振幅を、複数の範囲の波長を有する既知の位相変調器の欠点がない状態で測定可能なスキャトロメータの楕円偏光法の機能を提供する。例文帳に追加

To provide a function of an elliptic polarization method of a scatterometer capable of the measurement of the phase difference and amplitude of beams diffracted from a structure in a state where an already known phase modulator having wavelengths in a plurality of ranges has no defect. - 特許庁

本発明の半導体装置の故障解析方法は、偏光顕微鏡２０を用いた偏光法により、ゲート配線４Ａと配線８Ｂ間のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を当該コンタクト部に光を照射し、その反射光の方向成分を観察することで、上記コンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を検出することを特徴とする。例文帳に追加

In the fault analyzing method of the semiconductor device, the shape defect (existence of disconnection part 13, for example) in the contact part between gate wiring 4A and wiring 8B is detected by irradiating the contact part with light and observing the direction component of reflected light by a polarizing method using a polarized microscope 20. - 特許庁