クリティカルネットの英語

抽出部１０４は、半導体集積回路のネットリストから所定の遅延閾値ＤＴＨより大きい遅延値Ｄｉに対応するクリティカルパート（クリティカルパスＣＰｉ又はクリティカルネットＣＮｉ）を抽出する。例文帳に追加

The extraction part 104 extracts a critical part (a critical path CPi or a critical net CNi) corresponding to a delay value Di that is larger than a predetermined delay threshold value DTH from a net list of semiconductor integrated circuits. - 特許庁

クリティカルネットの数を減少させ、ディレイ短縮、及び、配線長短縮を図ることを可能とした半導体集積回路のセル配置方法を提供する。例文帳に追加

To provide a cell arrangement method for a semiconductor integrated circuit, that can shorten delay and wire length by reducing the number of critical nets. - 特許庁

回帰式生成部１１０は、所定の回帰アルゴリズムＡｍを用いて、抽出部１０４により抽出されたクリティカルパートの遅延（クリティカルパスＣＰｉの遅延値Ｄｉ又はクリティカルネットＣＮｉの遅延値ＤＮｉ）を再現する回帰式（回帰式又はｎ（ｎは２以上の整数）次元回帰式）Ｆｉを生成する。例文帳に追加

The regression formula generation part 110 generates a regression formula (a regression formula or n (n is an integral number of 2 or more.) dimension regression formula) Fi reproducing a delay of the critical part (the delay value Di of the critical path CPi or a delay value DNi of the critical net CNi) extracted from the extraction part 104 by using a predetermined regression algorithm Am. - 特許庁